贵州半导体光电子器件招标采购

A类复验：密封性检查 邀请询价 需求量:1.0只 规格描述:规格型号:半导体分立器件按GJB128A方法1071、半导体集成电路按GJB548A方法1014、元件按GJB360A方法112进行密封性检查；除非另有规定，对于液体钽电容器可用PH试纸进行检查，不要求进行真空检漏。 发布企业: 贵州华阳电工有限公司 联系人: 联系电话: 询价中 需求发布时间202...( 半导体光电子器件 在正文中 )

C类复验：引出端强度试验 邀请询价 需求量:1.0只 规格描述:规格型号:引出端强度试验按Q/6E201.14-2025基本产品用元器件入厂复验及贮存期和超期复验要求表4的规定。允许采用同批电特性不合格的器件作为样本。 发布企业: 贵州华阳电工有限公司 联系人: 联系电话: 询价中 需求发布时间2025-12-05 13:46( 半导体光电子器件 在正文中 )

C类复验：破坏性物理分析（DPA） 邀请询价 需求量:1.0只 规格描述:规格型号:半导体器件、液体钽电容器、密封继电器、金属壳封装的石英谐振和振荡器进行C类复验时，必须抽样作破坏性物理分析（DPA）。若无其它规定，对其它元器件一般不要求作DPA。 有关元器件DPA的方法及批不合格判据规定如下： a)分立器件按GJB548A拆卸半导体器件的外壳，按GJB-1...( 半导体光电子器件 在正文中 )

常温初测 邀请询价 需求量:1.0只 规格描述:型号/件号:在常温下，按固体继电器详细规范或专用规范的条件，按GJB1515中4.7.5和4.7.7的规定，检测固体继电器的电气系统峰值、关断电压、接通电压、关断时间、接通时间、绝缘电阻等性能参数（按器件详细规范要求，不适用的项目不进行测试），应符合固体继电器详细规范或专用规范的要求。 注：若入厂检验已完成此项...( 半导体光电子器件 在正文中 )

A类复验：密封性检查 邀请询价 需求量:1.0只 规格描述:型号/件号:半导体分立器件按GJB128A方法1071、半导体集成电路按GJB548A方法1014、元件按GJB360A方法112进行密封性检查；除非另有规定，对于液体钽电容器可用PH试纸进行检查，不要求进行真空检漏。 发布企业: 贵州华阳电工有限公司 联系人: 联系电话: 询价中 需求发布时间20...( 半导体光电子器件 在正文中 )

C类复验：引出端强度试验 邀请询价 需求量:1.0只 规格描述:型号/件号:引出端强度试验按Q/6E201.14-2025基本产品用元器件入厂复验及贮存期和超期复验要求表4的规定。允许采用同批电特性不合格的器件作为样本。 发布企业: 贵州华阳电工有限公司 联系人: 联系电话: 询价中 需求发布时间2025-12-05 13:48( 半导体光电子器件 在正文中 )

C类复验：破坏性物理分析（DPA） 邀请询价 需求量:1.0只 规格描述:型号/件号:半导体器件、液体钽电容器、密封继电器、金属壳封装的石英谐振和振荡器进行C类复验时，必须抽样作破坏性物理分析（DPA）。若无其它规定，对其它元器件一般不要求作DPA。 有关元器件DPA的方法及批不合格判据规定如下： a)分立器件按GJB548A拆卸半导体器件的外壳，按GJB-...( 半导体光电子器件 在正文中 )

高温反偏偏压老炼 邀请询价 需求量:1.0只 规格描述:规格型号:集成电路的高温动态老炼试验按GJB548A的方法1015A进行，并要求老炼时间为48h，温度为125℃或按器件详细规范或专用规范条件。 试验结束后，在常温下对器件按产品标准要求测量参数，剔除不合格品。 发布企业: 贵州华阳电工有限公司 联系人: 联系电话: 询价中 需求发布时间2025-12-...( 半导体光电子器件 在正文中 )

低温测试 邀请询价 需求量:1.0只 规格描述:规格型号:低温测试条件为-55℃或产品详细规范规定，将被测器件置于相应温度中并保持30min，其允许的变化量应符合相关标准或样本规定。 发布企业: 贵州华阳电工有限公司 联系人: 联系电话: 询价中 需求发布时间2025-12-05 13:50( 半导体光电子器件 在正文中 )

高温测试 邀请询价 需求量:1.0只 规格描述:规格型号:高温测试条件为125℃或产品详细规范规定，将被测器件置于相应温度中并保持30min，其允许的变化量应符合相关标准或样本规定。 发布企业: 贵州华阳电工有限公司 联系人: 联系电话: 询价中 需求发布时间2025-12-05 13:50( 半导体光电子器件 在正文中 )

A类复验：密封性检查 邀请询价 需求量:1.0只 规格描述:规格型号:半导体分立器件按GJB128A方法1071、半导体集成电路按GJB548A方法1014、元件按GJB360A方法112进行密封性检查；除非另有规定，对于液体钽电容器可用PH试纸进行检查，不要求进行真空检漏。 发布企业: 贵州华阳电工有限公司 联系人: 联系电话: 询价中 需求发布时间202...( 半导体光电子器件 在正文中 )

C类复验：破坏性物理分析（DPA） 邀请询价 需求量:1.0只 规格描述:规格型号:半导体器件、液体钽电容器、密封继电器、金属壳封装的石英谐振和振荡器进行C类复验时，必须抽样作破坏性物理分析（DPA）。若无其它规定，对其它元器件一般不要求作DPA。 有关元器件DPA的方法及批不合格判据规定如下： a)分立器件按GJB548A拆卸半导体器件的外壳，按GJB-1...( 半导体光电子器件 在正文中 )

C类复验：引出端强度试验 邀请询价 需求量:1.0只 规格描述:规格型号:引出端强度试验按Q/6E201.14-2025基本产品用元器件入厂复验及贮存期和超期复验要求表4的规定。允许采用同批电特性不合格的器件作为样本。 发布企业: 贵州华阳电工有限公司 联系人: 联系电话: 询价中 需求发布时间2025-12-05 13:50( 半导体光电子器件 在正文中 )

A类复验：密封性检查 邀请询价 需求量:1.0只 规格描述:规格型号:半导体分立器件按GJB128A方法1071、半导体集成电路按GJB548A方法1014、元件按GJB360A方法112进行密封性检查；除非另有规定，对于液体钽电容器可用PH试纸进行检查，不要求进行真空检漏。 发布企业: 贵州华阳电工有限公司 联系人: 联系电话: 询价中 需求发布时间202...( 半导体光电子器件 在正文中 )

C类复验：引出端强度试验 邀请询价 需求量:1.0只 规格描述:规格型号:引出端强度试验按Q/6E201.14-2025基本产品用元器件入厂复验及贮存期和超期复验要求表4的规定。允许采用同批电特性不合格的器件作为样本。 发布企业: 贵州华阳电工有限公司 联系人: 联系电话: 询价中 需求发布时间2025-12-05 13:55( 半导体光电子器件 在正文中 )

C类复验：破坏性物理分析（DPA） 邀请询价 需求量:1.0只 规格描述:规格型号:半导体器件、液体钽电容器、密封继电器、金属壳封装的石英谐振和振荡器进行C类复验时，必须抽样作破坏性物理分析（DPA）。若无其它规定，对其它元器件一般不要求作DPA。 有关元器件DPA的方法及批不合格判据规定如下： a)分立器件按GJB548A拆卸半导体器件的外壳，按GJB-1...( 半导体光电子器件 在正文中 )

粗检漏（有机介质电容器、无机介质电容器和铝电解电容器不适用） 邀请询价 需求量:1.0只 规格描述:规格型号:密封和半密封固体钽电解电容器按GJB360A的方法112中试验条件D进行粗检漏。待检器件表面不应有任何异物（包括敷形涂复和标记），对于有绝缘外套的电容器引用厂家筛选结论。 发布企业: 贵州华阳电工有限公司 联系人: 联系电话: 询价中 需求发布时间2...( 半导体光电子器件 在正文中 )

A类复验：密封性检查 邀请询价 需求量:1.0只 规格描述:规格型号:半导体分立器件按GJB128A方法1071、半导体集成电路按GJB548A方法1014、元件按GJB360A方法112进行密封性检查；除非另有规定，对于液体钽电容器可用PH试纸进行检查，不要求进行真空检漏。 发布企业: 贵州华阳电工有限公司 联系人: 联系电话: 询价中 需求发布时间202...( 半导体光电子器件 在正文中 )

C类复验：引出端强度试验 邀请询价 需求量:1.0只 规格描述:规格型号:引出端强度试验按Q/6E201.14-2025基本产品用元器件入厂复验及贮存期和超期复验要求表4的规定。允许采用同批电特性不合格的器件作为样本。 发布企业: 贵州华阳电工有限公司 联系人: 联系电话: 询价中 需求发布时间2025-12-05 13:59( 半导体光电子器件 在正文中 )

C类复验：破坏性物理分析（DPA） 邀请询价 需求量:1.0只 规格描述:规格型号:半导体器件、液体钽电容器、密封继电器、金属壳封装的石英谐振和振荡器进行C类复验时，必须抽样作破坏性物理分析（DPA）。若无其它规定，对其它元器件一般不要求作DPA。 有关元器件DPA的方法及批不合格判据规定如下： a)分立器件按GJB548A拆卸半导体器件的外壳，按GJB-1...( 半导体光电子器件 在正文中 )

颗粒碰撞噪声检测（PIND） 邀请询价 需求量:1.0只 规格描述:规格型号:按GJB548A中方法2020A的条件A进行（无空腔器件不做）。 发布企业: 贵州华阳电工有限公司 联系人: 联系电话: 询价中 需求发布时间2025-12-05 14:09( 半导体光电子器件 在正文中 )

高温反偏偏压老炼 邀请询价 需求量:1.0只 规格描述:规格型号:集成电路的高温动态老炼试验按GJB548A的方法1015A进行，并要求老炼时间为48h，温度为125℃或按器件详细规范或专用规范条件。 试验结束后，在常温下对器件按产品标准要求测量参数，剔除不合格品。 发布企业: 贵州华阳电工有限公司 联系人: 联系电话: 询价中 需求发布时间2025-12-...( 半导体光电子器件 在正文中 )

低温测试 邀请询价 需求量:1.0只 规格描述:规格型号:低温测试条件为-55℃或产品详细规范规定，将被测器件置于相应温度中并保持30min，其允许的变化量应符合相关标准或样本规定。 发布企业: 贵州华阳电工有限公司 联系人: 联系电话: 询价中 需求发布时间2025-12-05 14:09( 半导体光电子器件 在正文中 )

高温测试 邀请询价 需求量:1.0只 规格描述:规格型号:高温测试条件为125℃或产品详细规范规定，将被测器件置于相应温度中并保持30min，其允许的变化量应符合相关标准或样本规定。 发布企业: 贵州华阳电工有限公司 联系人: 联系电话: 询价中 需求发布时间2025-12-05 14:09( 半导体光电子器件 在正文中 )

A类复验：密封性检查 邀请询价 需求量:1.0只 规格描述:规格型号:半导体分立器件按GJB128A方法1071、半导体集成电路按GJB548A方法1014、元件按GJB360A方法112进行密封性检查；除非另有规定，对于液体钽电容器可用PH试纸进行检查，不要求进行真空检漏。 发布企业: 贵州华阳电工有限公司 联系人: 联系电话: 询价中 需求发布时间202...( 半导体光电子器件 在正文中 )

C类复验：引出端强度试验 邀请询价 需求量:1.0只 规格描述:规格型号:引出端强度试验按Q/6E201.14-2025基本产品用元器件入厂复验及贮存期和超期复验要求表4的规定。允许采用同批电特性不合格的器件作为样本。 发布企业: 贵州华阳电工有限公司 联系人: 联系电话: 询价中 需求发布时间2025-12-05 14:09( 半导体光电子器件 在正文中 )

C类复验：破坏性物理分析（DPA） 邀请询价 需求量:1.0只 规格描述:规格型号:半导体器件、液体钽电容器、密封继电器、金属壳封装的石英谐振和振荡器进行C类复验时，必须抽样作破坏性物理分析（DPA）。若无其它规定，对其它元器件一般不要求作DPA。 有关元器件DPA的方法及批不合格判据规定如下： a)分立器件按GJB548A拆卸半导体器件的外壳，按GJB-1...( 半导体光电子器件 在正文中 )

A类复验：密封性检查 邀请询价 需求量:1.0只 规格描述:规格型号:半导体分立器件按GJB128A方法1071、半导体集成电路按GJB548A方法1014、元件按GJB360A方法112进行密封性检查；除非另有规定，对于液体钽电容器可用PH试纸进行检查，不要求进行真空检漏。 发布企业: 贵州华阳电工有限公司 联系人: 联系电话: 询价中 需求发布时间202...( 半导体光电子器件 在正文中 )

C类复验：引出端强度试验 邀请询价 需求量:1.0只 规格描述:规格型号:引出端强度试验按Q/6E201.14-2025基本产品用元器件入厂复验及贮存期和超期复验要求表4的规定。允许采用同批电特性不合格的器件作为样本。 发布企业: 贵州华阳电工有限公司 联系人: 联系电话: 询价中 需求发布时间2025-12-05 14:13( 半导体光电子器件 在正文中 )

C类复验：破坏性物理分析（DPA） 邀请询价 需求量:1.0只 规格描述:规格型号:半导体器件、液体钽电容器、密封继电器、金属壳封装的石英谐振和振荡器进行C类复验时，必须抽样作破坏性物理分析（DPA）。若无其它规定，对其它元器件一般不要求作DPA。 有关元器件DPA的方法及批不合格判据规定如下： a)分立器件按GJB548A拆卸半导体器件的外壳，按GJB-1...( 半导体光电子器件 在正文中 )

高温反偏偏压老炼 邀请询价 需求量:1.0只 规格描述:规格型号:集成电路的高温动态老炼试验按GJB548A的方法1015A进行，并要求老炼时间为48h，温度为125℃或按器件详细规范或专用规范条件。 试验结束后，在常温下对器件按产品标准要求测量参数，剔除不合格品。 发布企业: 贵州华阳电工有限公司 联系人: 联系电话: 询价中 需求发布时间2025-12-...( 半导体光电子器件 在正文中 )

低温测试 邀请询价 需求量:1.0只 规格描述:规格型号:低温测试条件为-55℃或产品详细规范规定，将被测器件置于相应温度中并保持30min，其允许的变化量应符合相关标准或样本规定。 发布企业: 贵州华阳电工有限公司 联系人: 联系电话: 询价中 需求发布时间2025-12-05 13:47( 半导体光电子器件 在正文中 )

A类复验：密封性检查 邀请询价 需求量:1.0只 规格描述:规格型号:半导体分立器件按GJB128A方法1071、半导体集成电路按GJB548A方法1014、元件按GJB360A方法112进行密封性检查；除非另有规定，对于液体钽电容器可用PH试纸进行检查，不要求进行真空检漏。 发布企业: 贵州华阳电工有限公司 联系人: 联系电话: 询价中 需求发布时间202...( 半导体光电子器件 在正文中 )

高温测试 邀请询价 需求量:1.0只 规格描述:规格型号:高温测试条件为125℃或产品详细规范规定，将被测器件置于相应温度中并保持30min，其允许的变化量应符合相关标准或样本规定。 发布企业: 贵州华阳电工有限公司 联系人: 联系电话: 询价中 需求发布时间2025-12-05 13:47( 半导体光电子器件 在正文中 )

C类复验：引出端强度试验 邀请询价 需求量:1.0只 规格描述:规格型号:引出端强度试验按Q/6E201.14-2025基本产品用元器件入厂复验及贮存期和超期复验要求表4的规定。允许采用同批电特性不合格的器件作为样本。 发布企业: 贵州华阳电工有限公司 联系人: 联系电话: 询价中 需求发布时间2025-12-05 13:47( 半导体光电子器件 在正文中 )

C类复验：破坏性物理分析（DPA） 邀请询价 需求量:1.0只 规格描述:规格型号:半导体器件、液体钽电容器、密封继电器、金属壳封装的石英谐振和振荡器进行C类复验时，必须抽样作破坏性物理分析（DPA）。若无其它规定，对其它元器件一般不要求作DPA。 有关元器件DPA的方法及批不合格判据规定如下： a)分立器件按GJB548A拆卸半导体器件的外壳，按GJB-1...( 半导体光电子器件 在正文中 )

高温反偏偏压老炼 邀请询价 需求量:1.0只 规格描述:规格型号:集成电路的高温动态老炼试验按GJB548A的方法1015A进行，并要求老炼时间为48h，温度为125℃或按器件详细规范或专用规范条件。 试验结束后，在常温下对器件按产品标准要求测量参数，剔除不合格品。 发布企业: 贵州华阳电工有限公司 联系人: 联系电话: 询价中 需求发布时间2025-12-...( 半导体光电子器件 在正文中 )

低温测试 邀请询价 需求量:1.0只 规格描述:规格型号:低温测试条件为-55℃或产品详细规范规定，将被测器件置于相应温度中并保持30min，其允许的变化量应符合相关标准或样本规定。 发布企业: 贵州华阳电工有限公司 联系人: 联系电话: 询价中 需求发布时间2025-12-05 13:49( 半导体光电子器件 在正文中 )

高温测试 邀请询价 需求量:1.0只 规格描述:规格型号:高温测试条件为125℃或产品详细规范规定，将被测器件置于相应温度中并保持30min，其允许的变化量应符合相关标准或样本规定。 发布企业: 贵州华阳电工有限公司 联系人: 联系电话: 询价中 需求发布时间2025-12-05 13:49( 半导体光电子器件 在正文中 )

A类复验：密封性检查 邀请询价 需求量:1.0只 规格描述:规格型号:半导体分立器件按GJB128A方法1071、半导体集成电路按GJB548A方法1014、元件按GJB360A方法112进行密封性检查；除非另有规定，对于液体钽电容器可用PH试纸进行检查，不要求进行真空检漏。 发布企业: 贵州华阳电工有限公司 联系人: 联系电话: 询价中 需求发布时间202...( 半导体光电子器件 在正文中 )