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1 | (略) | 名称:(略) (略)(TOF-SIMS)是一种基于质谱的表面分析技术。可以获取样品表面的分子、元素及同位素的信息,探测化学元素或化合物在样品表面和内部的分布,也可以用于生物组织和细胞表面或内部化学成分的成像分析,配合样品表面扫描和剥离,还可以得到样品表层或内部化学成分的三维图像。要求可同时应用于无机材料和有机材料、制药、电子元器件等各种材料和器件的研究;可以有效解决对亚微米级固体材料表面元素成分、化学态、分子键接和分子结构表征。 根据使用目的,设备主要功能和参数如下: 1、能够对平整平面、不平整及形貌复杂的样品进行高灵敏度与高分辨分析,包括高横向分辨率(50 nm)、纵向分辨率(2 nm)与质量分辨率 (>16,000),要求离子枪可选配Bi、Au或Ga。 2、要求设备(略),如选(略)(FIB)、高亮度低能量铯离子枪、高亮度低能量氩/氧离子枪以及氩气/C60团簇离子枪,以实现三维成(略)。 3、要求在软硬件上支持对有机分子的分析。 4、要求配置全自动五轴样品台或样品传送机构、精确样品导航 5、完整的数据分析处理系统(包括质谱解析、影像分析、三维影像剖析与深度剖析等)。 6、设备要求配置电荷补偿系统和二次电子检测器。 7、根据使用情况,要求可同时配置标准化样品托、加热冷却样品托与特殊尺寸定制化样品托。 8、需要配置可以在手套箱中使用的真空样品传送管,且与(略)。为保证样品在系统中完成表面前处理,可考虑选配前处理室并具有一定的可拓展性。 9、要求配置快速烘烤系统,以快速清除样品污染引起的真空变差和记忆效应。 10、样品加热和冷却系统。 11、支持设备(略)(气体发生器、UPS等) 采购数量:1台。质保期:3年。 | (略).00 | (略) |