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样品失效分析XJ024051700906
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报名截止时间
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投标截止时间
2024-05-23
关键信息
招标详情
样品失效分析
可报价开始时间：2024-05-20 09:00:00
可报价结束时间：2024-05-23 09:00:00
编号：****
发布单位：****
最终单位：****
参与方式：公开询价
出价方式：一次性出价
付款方式：验收合格付款
是否必须加盖电子签章：否
保证金：200.0元
联系人：汤工
联系方式：0871-****8168
备注：测试要求：半导体器件失效点位置分析，包含形貌观察、尺寸量测、成分分析，要求精准到1.0 nm以内。测试方式：（1）采用双束聚焦离子束对样品定位切割并将隐藏在各种基底材料中的缺陷揭露出来。要求不能对样品造成损伤、污染。 （2）制备TEM样品。（3）TEM测试分析，要求清晰观察到晶体晶格条纹，得到清晰高质量的选区电子衍射图，以及元素分布图。
采购方发布的采购清单
| 商品名称 | 品类 | 采购数量 | 最少响应量 | 分析要求 | 分析周期 |
| 失效点位置分析 | 服务类 | 6.0件 | 6.0件 | 详见备注 | 2周 |
招标进度跟踪
2024-05-20
招标公告
样品失效分析XJ024051700906
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