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多参量耦合环境下的敏感元件可靠性测试验证系统(芯片形貌特征检测系统)中标公告
招标详情
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多参量耦合环境下的敏感元件可靠性测试验证系统(芯片形貌特征检测系统)中标公告
发布时间： 2024-05-21 10:52:19
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多参量耦合环境下的敏感元件可靠性测试验证系统（芯片形貌特征检测系统）
中标结果公告
招标编号：****
****多参量耦合环境下的敏感元件可靠性测试验证系统（芯片形貌特征检测系统）项目的中标候选人公示期已结束，公示期间无异议，现将中标结果公示如下：
中标人：****
中标价：****500.00元
招标人：****
地址：**省**市**区黄田坝
联 系 人：宋老师
电 话：028-****9996
招标代理机构：：****
地址：**市**区中关村南大街31号神舟大厦9层
联系人：李杰 罗杰 姚子良
电话：177****4982
传真：010-****8720
电子邮件：****@163.com
招标进度跟踪
2024-05-21
中标通知
多参量耦合环境下的敏感元件可靠性测试验证系统(芯片形貌特征检测系统)中标公告
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