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透射电子显微镜(TEM)、聚焦离子束显微镜(FIB)以及二次离子质谱(SIMS)等半导体测试分析
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****2024年10月政府采购意向-透射电子显微镜(TEM)、聚焦离子束显微镜(FIB)以及二次离子质谱(SIMS)等半导体测试分析 详细情况
| 透射电子显微镜(TEM)、聚焦离子束显微镜(FIB)以及二次离子质谱(SIMS)等半导体测试分析 | |
| 项目所在采购意向： | ****2024年10月政府采购意向 |
| 采购单位： | **** |
| 采购项目名称： | 透射电子显微镜(TEM)、聚焦离子束显微镜(FIB)以及二次离子质谱(SIMS)等半导体测试分析 |
| 预算金额： | 1400.000000万元(人民币) |
| 采购品目： |
C****0000其他专业技术服务
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| 采购需求概况 ： |
1.名称：透射电子显微镜(TEM)、聚焦离子束显微镜(FIB)以及二次离子质谱(SIMS)等半导体测试分析；2.数量：2800个；3.目标：FIB、TEM和SIMS等测试分析，用于先导CMOS工艺、器件和电路研发；4.质量：TEM结构清晰，膜层量测准确，指定位置需看到晶格，成分分析准确，符合业界检测标准；5.服务：按需求方指定位置和需求进行分析和量测，提供盖章的标准检测报告；6.时限：收到普通样品72小时内提供分析报告；收到加急样品24小时内提供分析报告。
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| 预计采购时间： | 2024-10 |
| 备注： | |
本次公开的****政府采购工作的初步安排，具体采购项目情况以相关采购公告和采购文件为准。标书代写
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