无液氦低温磁光克尔测量系统

1.1 主机 ▲1.1.1具备多种磁学测量与克尔显微功能，包括：单点LOOP功能、区域Mapping功能、Rastering磁畴成像功能、高速CCD磁畴成像功能、反射率成像功能； ▲1.1.2 激光器：系统配备带有稳定系统的3R级红色固态激光二极管。强度噪声≤0.02%RMS, 偏振噪声≤0.5 mdeg RMS。备用光学窗口允许用户使用其它激光器。允许的外接激光器波长范围：400-700nm； 1.1.3 磁性测量：激光最小光斑极向克尔测试时≤3μm，纵向克尔测试时≤5μm，激光斑点可定位在样品表面的任意一点，测量该点的磁滞回线。在控制软件的实时显现图像中，双击感兴趣的区域即可完成样品定位。长距离的样品移动可通过手动光学位移台完成； 1.1.4具备测试纵向、横向及极向磁滞回线和磁畴成像功能； ▲1.1.5磁性测量灵敏度：≤1×10-11emu ▲1.1.6 具备扫描光栅系统； 1.1.7 磁光效应：同步记录克尔信号和样品反射率。使用极向克尔物镜，激光沿0°角入射样品，记录极向克尔转角/椭偏率。使用纵向克尔物镜，激光沿45°角入射样品，记录纵向、横向克尔转角/椭偏率； 1.1.8 成像：在计算机的控制下，激光斑点在样品表面快速扫描，获取实时图像。采图频率：4幅/秒（高速）、1.7幅/秒（常规）、7秒一幅（高分辨）。成像模式：反射率成像、克尔信号成像。非磁性结构形成的背底信号，可在软件上进行去除； 1.2 光学透镜 1.2.1安装在光学箱的外部，可以方便安装和取下；。 1.2.2 含极向克尔镜头，兼容四极磁铁的室温克尔测试； 1.2.3 含纵向45°克尔镜头，兼容四极磁铁的室温克尔测试； 1.2.4 含高分辨极向克尔直角镜头，兼容四极磁铁的室温克尔测试； 1.3 电磁体 1.3.1 室温标准配置为四极磁体，可分别调节X、Y方向磁场强度，在样品平面内产生任意方向磁场。 1.3.2 电脑控制，可产生任意波形磁场。 1.3.3 X、Y方向最大磁强度≥1.2kG（0.12T） 1.4 偶极电磁铁 1.4.1 室温时应用于纵向磁光克尔以及极向磁光克尔最大磁强度≥0.47T 1.5 磁场测量控制 1.5.1 通过霍尔探头对实际磁场强度进行测量，单次测量噪音≤0.lG （0.01mT）RMS；多次测量后噪音进一步降低； ▲1.5.2 最小克尔转角检出角≤0.5 mdeg； 1.5.3 配置标准样品，可对霍尔探头进行校准； 1.5.4 脉冲磁场模式下，可对磁畴成像进行测