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某单位集成电路老炼测试系统需求对接公告
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400-688-2000
相关单位：
***********公司企业信息
统一信息编码：****
采购阶段：订购
需求分类：产品设备类
专业领域：计算机与软件,其他
| 需求名称 |
需求类别 |
需求信息 |
供应商资质和能力要求 |
联系人和联系电话 |
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****集成电路老炼测试系统需求对接公告 |
产品设备类 |
1. 试验温度范围：室温～150℃；温度偏差：+2℃/-3℃(125℃)；温度均匀度：≤2℃(125℃)；温度波动度：±0.5℃(125℃)。 2. 实时监控、记录并显示全过程各老炼/测试试验区的温度曲线，老炼/测试的数据及结果，每隔一个设定时间，自动记录一次。 3. 试验区域：具有32个独立试验区，可同时老炼、测试32种不同种类的集成电路，每16个区一个烘箱，即可同时老炼两种温度的器件。 4. 兼容LVCMOS、LVTTL等电平，电平范围0 V～3.5V。 5. 最大功能测试速率不小于20MHz，可提供连续时钟。 6. 图形存储深度不小于16M/每通道。 7. ****监测所有工位老炼的试验情况。 8. 6路DPS程控电源的电压电流：0.5V～5V/15A，0.5V～5V/15A ，0.5V～5V/15A ，0.5V～5V/35A，0.5V～5V/35A，0.5V～5V/35A）；负载调整率：≤0.5%+10mV，纹波≤10mV；电压精度：±10mV，电流精度：±0.5%+20mA。 |
1）具有独立法人资格，公司无外资背景； 2）具有类似项目销售案例。 |
翁先生 158****0713 |
该项目采取线下对接报名，请与项目联系人直接联系。
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