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| 1 | 扫描近场光学显微-纳米红外光谱-原子力探针显微集成系统 | 基于扫描探针显微镜平台的近场光学表征-纳米红外光谱测试-原子力显微成像的集成系统,1套。用于研究半导体材料表面纳米结构、化学成分的超高光学分辨表征分析,在特定波数下对样品表面结构成像和表面不同成分的分布情况分析。并可用于研究样品表面局域光谱特性,微观力学性质、电学性质以及热学性质的检测分析。系统应包括扫描探针显微系统、散射式近场光学显微系统、纳米红外光谱测试、以及激光系统等,需具有优于10nm超高空间分辨的近场光学和红外成像,红外光谱测试分辨优于1cm-1,扫描探针系统要求应具备接触模式、轻敲模式、表面电势、静电力、纳米级热分析等多种功能的纳米微区扫描探针成像模式。供货周期:合同签订后12个月内,质保1年。 | ****000.00 | 2025-03 |