芯片设计安全性测试与评估系统

发布时间: 2025年03月14日
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****2025年5至6月政府采购意向-芯片设计安全性测试与评估系统 详细情况
芯片设计安全性测试与评估系统
项目所在采购意向: ****2025年5至6月政府采购意向
采购单位: ****
采购项目名称: 芯片设计安全性测试与评估系统
预算金额: 268.200000万元(人民币)
采购品目:
A****0304漏洞扫描设备
采购需求概况 :
设备1套。主要用于支持芯片设计安全性和可靠性的形式化建模与验证;实现安全性和可靠性漏洞行为的建模和验证;支持基于仿真、形式化证明和硬件模拟的验证和漏洞挖掘方式,能够实现软硬件联合验证;支持PSL、CTL和LTL等时序逻辑的安全属性验证,实现验证覆盖率与检测结果的可视化分析;完整性和机密性相关安全漏洞检测;能够实现与标准EDA设计语言、流程和工具的有效接口;能实现系统级、寄存器传输级和门级的多级验证;能对不同行为级综合优化设计的能量侧信道安全进行定性与定量评估;具有芯片设计安全验证模型自动生成功能、提供对Verilog设计的形式化建模,支持SMV建模语言;提供对Verilog设计的测试向量生成技术。
预计采购时间: 2025-07
备注:

本次公开的****政府采购工作的初步安排,具体采购项目情况以相关采购公告和采购文件为准。标书代写

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