椭偏仪(GY202500881)采购公告

发布时间: 2025年04月14日
摘要信息
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相关单位:
***********公司企业信息
项目名称 项目编号 公告开始日期 公告截止日期 采购单位 付款方式 联系人 联系电话 签约时间要求 到货时间要求 预算总价 发票要求 含税要求 送货要求 安装要求 收货地址 供应商资质要求 公告说明
椭偏仪****
2025-04-14 14:23:582025-04-17 15:00:00
****货到安装调试验收合格后一次性付清(无息)
签订合同后30日内
¥350000.00
****中心校区综合实验楼(原环境楼)

符合《政府采购法》第二十二条规定的供应商基本条件


采购清单1
采购商品 采购数量 计量单位 所属分类
椭偏仪 1 光学式分析仪器
品牌 型号 预算单价 技术参数及配置要求 参考链接 售后服务
**颐光
SE-WM-L
¥ 350000.00
1) 测量能力:全穆勒矩阵16 个元素、Psi/Delta(其中Delta 值域:-90-270°,360 度无死角)、折射率、厚度及介电常数等; 2) 光谱范围:380-1000nm ; 3) 单点测量时间:<10s ; 4) 微光斑尺寸:短轴直径200μm; 5) 调平系统:光学相机可视化辅助对准调平; 6) 调制技术:双旋转PCr1SCr2A 调制技术; 7) 入射角范围:45-90°, 5°间隔; 8) 样品台:支持Z 轴、俯仰手动可调,Z轴行程0-10mm,最大支持Ф200mm 样件空吸附测量; 9) 膜厚重复性精度:0.005nm (100nm SiO2 硅片,30 次重复测量); 10) 折射率重复性精度:0.0002 @632.8nm,100nm SiO2 硅片,30 次测量; 11) 退偏指数:优于±0.5%(测量裸硅,全波段90%满足); 12)分析软件:具有多种测量模式,支持编辑保存及一键调用,软件内置数百种的光学材料nk数据库;具备多层各项异性薄膜建模分析功能及折射率梯度分布模型,支持5个以上离线软件授权许可;提供原厂针对本项目的授权书及售后服务承诺书。 13)测控电脑:商业工控机,Windows 10操作系统,CPU: i7处理器;内存:8G ;硬盘:1T;液晶显示器:22寸。
服务网点:当地;质保期限:3年;响应期限:报修后4小时;报修后48小时能到达用户现场,维修时需提供样机使用。;

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