招标详情
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400-688-2000
项目名称
| 椭偏仪 | 项目编号
**** |
公告开始日期
| 2025-04-14 14:23:58 | 公告截止日期
2025-04-17 15:00:00 |
采购单位
| **** | 付款方式
货到安装调试验收合格后一次性付清(无息) |
联系人
| 联系电话
|
签约时间要求
| 到货时间要求
签订合同后30日内 |
预算总价
| ¥350000.00 |
发票要求
|
含税要求
|
送货要求
|
安装要求
|
收货地址
| ****中心校区综合实验楼(原环境楼) |
供应商资质要求
| 符合《政府采购法》第二十二条规定的供应商基本条件 |
公告说明
|
采购商品 采购数量 计量单位 所属分类
| 椭偏仪 |
1 |
台 |
光学式分析仪器 |
品牌
| **颐光 |
型号
| SE-WM-L |
预算单价
| ¥ 350000.00 |
技术参数及配置要求
| 1) 测量能力:全穆勒矩阵16 个元素、Psi/Delta(其中Delta 值域:-90-270°,360 度无死角)、折射率、厚度及介电常数等; 2) 光谱范围:380-1000nm ; 3) 单点测量时间:<10s ; 4) 微光斑尺寸:短轴直径200μm; 5) 调平系统:光学相机可视化辅助对准调平; 6) 调制技术:双旋转PCr1SCr2A 调制技术; 7) 入射角范围:45-90°, 5°间隔; 8) 样品台:支持Z 轴、俯仰手动可调,Z轴行程0-10mm,最大支持Ф200mm 样件空吸附测量; 9) 膜厚重复性精度:0.005nm (100nm SiO2 硅片,30 次重复测量); 10) 折射率重复性精度:0.0002 @632.8nm,100nm SiO2 硅片,30 次测量; 11) 退偏指数:优于±0.5%(测量裸硅,全波段90%满足); 12)分析软件:具有多种测量模式,支持编辑保存及一键调用,软件内置数百种的光学材料nk数据库;具备多层各项异性薄膜建模分析功能及折射率梯度分布模型,支持5个以上离线软件授权许可;提供原厂针对本项目的授权书及售后服务承诺书。 13)测控电脑:商业工控机,Windows 10操作系统,CPU: i7处理器;内存:8G ;硬盘:1T;液晶显示器:22寸。 |
参考链接
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售后服务
| 服务网点:当地;质保期限:3年;响应期限:报修后4小时;报修后48小时能到达用户现场,维修时需提供样机使用。; |