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1) 测试标准 符合JESD 51-1、51-14、IEC 60747-8、 IEC60747-9、 IEC 60747-15、IEC60749-23、IEC 60747-34、AEC-Q101、AQG324等相关标准要求
2) 测试功能 功率循环试验功能,瞬态热阻测试功能,k系数标定功能,功率循环试验中,可对每个被测器件自动穿插瞬态热阻测试
3) 加热电源 共有三个通道1000A/10V+500A/10V+50A/10V和一个预留通道接口,设备单通道最大加热电流为1000A/10V,每个通道均可以独立运行,也可以支持多电源通道并联测试
4) 测试工位 4个采样工位(共计12个工位),可用于K系数标定以及瞬态热阻测试,所有采样工位可以同时采集数据
5) 搭载连续变频数据采样技术,最高1MHz
6) 设备能够测量包括硅基、碳化硅基、氮化镓基等在内的各种基材的功率器件,并且软硬件升级接口开放,满足未来技术升级和增强配置等需要
详见附件技术方案