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数字IC测试系统
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数字IC测试系统采购寻源公告
发布时间：2025-04-25 17:03:58调研截止时间：2025-04-29 18:52:16 标书代写
寻源状态：进行中
一、基本信息
标题：数字IC测试系统
寻源单位：****研究所
寻源截止时间：2025-04-29 18:52:16标书代写
采购领域：固定资产
采购品类：通用设备-电子和通讯测量仪器-其他电子和通信测量仪器
预计采购形式：非招采购
二、采购需求
该设备用于CMOS/TTL、4000/4500、74/54ACT、74/54HCT、422接口等系列集成电路的参数及功能测试，并可配合handler或prober实现全自动化测试。 该设备至少有10个插槽位，可安装8块数字通道板卡和1块电源板卡，及一块系统接口板卡。 数字通道板卡2块，每板卡至少包含32路IO通道，每通道驱动电压范围-8V~8V，比较电压范围-6V~6V，电压精度不低于10mV，测试频率不低于20Mbps，测试向量存储深度≥2M。独特的2路通道精密测量单元，至少每16个通道一个独立精密测量单元，电压范围±10V，电压精度不低于10mV，电流范围±360mA。 高压精密测量单元板卡，每板卡至少包含4路高压精密测量单元通道，单通道电压范围：-18V~40V，电压精度不低于10mV，单通道电流范围：±450mA。 测试头支架：根据使用需求测试头可定位，旋转±90度。 该设备具备自检功能，包括存储深度、电压、电流精度自检，具备外部校准功能，配套专用校准板一套。 测试设备可连续24小时稳定运行，不允许存在卡顿、顿挫、异响现象。
三、资格条件
其他说明（如资质、能力要求等）：具备有效的营业执照、质量管理证书以及能够满足设备指标要求的能力证明；提供具备资格的测试设备生产线的实际使用情况的证明。
四、附件
暂无文件
五、名片信息
供应商发起线上商谈后，发布单位可根据商谈情况选择是否交换名片。（未交换名片前供应商将无法看到名片信息）
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