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光电芯片耦合自动测试系统（XJ2025000037）延期公告

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天津 -天津

发布时间： 2025年05月14日

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光电芯片耦合测试系统公告

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相关单位：

***********公司企业信息

项目名称项目编号公告开始日期公告截止日期采购单位付款方式联系人联系电话签约时间要求到货时间要求预算总价发票要求含税要求送货要求安装要求收货地址供应商资质要求公告说明

光电芯片耦合自动测试系统	****
2025-05-13 17:22:37	2025-05-15 18:00:00
****	供方提供货物至需方指定地点经安装验收合格，双方签字确认后，七个工作日内支付全部货款。

	按照合同约定执行
￥




****八里台校区伯苓楼七楼
符合《政府采购法》第二十二条规定的供应商基本条件

采购清单1

采购商品采购数量计量单位所属分类

光电芯片耦合自动测试系统

台

品牌型号预算单价技术参数及配置要求参考链接售后服务

无

￥

1、六轴自动耦合滑台:XYZ行程20mm，最小步进0.05um，thetaX，Y可调范围+5°，thetaZ 可调范围±4.5°，最小分辨率 0.252"; 2、光纤耦合方式为异侧和同侧； 3、芯片放置台温控范围-10℃~120℃，温度分辨率<0.05°℃； 4、XYZR 四轴可调，XY:±6.5mm，Z行程10mm，R 轴360°，粗调 1°； 5、观察系统:垂直方向，XYZ+Z 微调轴，行程 40mm； 6、镜头:0.7-4.5X 变倍+10X，工作距离~25mm，侧向XYZ可调，行程40mm； 7、镜头:0.7-4.5X 变倍，工作距离 110mm； 8、射频探针台调整精度 3μm，五轴多角度调节，XYZ调节范围“12mm，角度可调范围 10°，最小读数 5'； 9、定制高频探针夹具配套间距 10mm-20mm； 10、直流探针台：三轴可调，XYZ 行程 13mm，精度 3μm。

按国家法定或行业要求提供售后服务。