热电效率测量系统

A****0402物理特性分析仪器及校准仪器

拟建设系统是在室温至高温（500 ℃）下，实现器件的发电与制冷效率的测量，样品的热电性能预检测量和柔性热电器件在原位弯曲条件下的电学性能检测。主要涉及的参数包括温度控制范围、控温效率、电阻率的检测范围，电磁铁的磁控范围等。 主要技术指标如下 1. 热电器件效率测试系统 1.1 热端温度范围：RT-500℃ 1.2 冷端温度范围：15-25℃（水冷） 1.3 测量电压： 1-108μV，误差5%; 1.4 测量电流： 1-106μA，误差5%; 1.5 效率计算：实时输出能量转换效率（η，±10%） 1.6 真空兼容性：≤10-1 Pa 1.7 器件尺寸：单臂，横截面面积约为2.5×2.5 mm2；模块，横截面面积约为1×1 cm2。 2.热电器件性质预检系统 2.1 磁场强度：0-0.5 T连续可调，分辨率≤0.001 T， 2.2 最小霍尔电压：1μV 2.3 载流子浓度测试范围： 1012-1021 cm-3（不确定度≤5%） 2.4 电阻率测量范围：105 至 105 Ω﹒cm（不确定度≤3%） 2.5 电阻率测量精度：±1%（@25℃-1100℃），分辨率10 Ω﹒cm 2.6 密封性：真空腔体漏率≤1×10-6 Pa﹒m3/s 2.7 气氛环境：支持惰性气体（He，纯度≥99.999%）、真空（≤10-5 Pa） 3. 室温柔性热电器件测试系统 3.1 电阻率测量范围：10 至 102 Ω﹒cm 3.2 电阻率测量精度：±10%（@10℃ - 40℃） 3.3 塞贝克系数测量范围：±1 至 ±500 μV/K，测量精度：±7%（@10℃ - 40℃） 3.4 温度梯度控制：ΔT范围0.1 - 10 K，分辨率：0.01 K，稳定性：±0.1 K 3.5 薄膜厚度兼容性：0.1 μm -100 μm 3.6 原位测试室温柔性热电器件弯曲条件下的性质，含电阻率和塞贝克系数 服务要求：1年质保 到货时间：2025年12月