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PLA测试(偏光、介电、微米划痕、XAFS、紫外老化等）
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***********公司企业信息
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| 采购信息 | |
| 采购单位名称 | 电气工程系 |
| 采购项目名称 | PLA测试(偏光、介电、微米划痕、XAFS、紫外老化等） |
| 成交供应商 | **** |
| 成 交 价（元） | 5500 |
| 采购清单 | ||||||
| 序号 | 物资名称 | 规格型号 | 单价（元） | 数量 | 技术参数 | |
| 1 | PLA测试(偏光、介电、微米划痕、XAFS、紫外老化等） | 79635 | 1 | 因项目研究要求，需开展PLA性能测试。 | ||
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