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| 高温高压探针台 | 1.0/套 | 137000.0 | Xitaite | XEH-100 | 1、 ▲需实现新型材料功率半导体器件高温高压静态表征功能: 直流扫描测试:施加从零到最大值或最小值的电压或电流斜坡,并测量相应的电流或电压响应。绘制I-V 曲线并分析器件的开关性能、温度稳定性、导通损耗、关断损耗、反向恢复损耗; 击穿测试:施加从零到承受的最高电压(漏电流达特定值),并测量相应的电流响应。绘制I-V 曲线并分析器件的安全裕度、温度特性等; 脉冲测试:施加具有指定幅度、宽度、周期和数量的电压或电流脉冲,并测量相应的电流或电压响应。绘制脉冲波形并分析器件的瞬态和动态特性,例如开关时间、保持时间。 电容测试:施加具有指定频率、电压的交流信号,并测量电流- 电压相位差计算电容值。绘制输入电容、输出电容、反向传输电容参数曲线,分析器件的驱动电流设计、预测米勒效应和关断损耗。 2、 系统需要温度提供范围:RT ~ 300°C;温度分辨率:0.1°C。内部隔离连接模组实现耐压≥3kV; 3、 需配≥4路测量通道。≥3路直流通道,支持测量频率范围≥DC-50MHz,每通道电压≥200V,电流≥100mA,功率≥2w,测量电流分辨率≤0.1fA,脉冲采样率不低于0.01 MSa/s;≥1路高压通道,电压≥3kV,电流≥120mA,功率≥180w。探臂的可移动范围:X/Y/Z方向12mm精度:≤0.7um。系统漏电流:≤1000fA@1V。 4、 提供一套体视显微镜;综合放大变倍:≥0.65 - 6.5;配套调焦机构以及LED可调亮度灯源;提供CCD+≥11"屏幕集成一体显示;配套可移动支架,可配合光学平台使用; 5、 提供1m×1m黑色屏蔽箱,需配套interlock模块; | 送货上门安装并与功率半导体测试设备进行联调达到实现【新型材料功率半导体器件高温高压静态表征测试系统】 |