开启全网商机
登录/注册
| ****巴条、chip测试系统采购项目 | |
| 项目所在采购意向: | ****2025年11至12月政府采购意向 |
| 采购单位: | **** |
| 采购项目名称: | ****巴条、chip测试系统采购项目 |
| 预算金额: | 180.000000万元(人民币) |
| 采购品目: | |
| 采购需求概况 : |
巴条、chip测试系统采购项目1套: 1.支持全自动上下料机制; 2.待测产品类型有bar条和chip两种形式,至少满足常规DFB、FP不同规格的芯片测试,最好能满足EML(DFB+EA双电极)等芯片的测试需求; 3.支持常高温测试,测试温度范围至少涵盖25~85℃,精度至少±0.5℃; 4.可测试LIV曲线、光谱测量、背光功率测量、发散角等,其中发散角测试范围±45℃,精度达±0.1°; 5.可测试输出光功率,其中bar条形式可测0~500mW及以上,chip形式可测0~200mW及以上; 6.支持连续电流扫描和脉冲电流扫描,CW扫描量程至少0~500mA;; 7.波长范围:可测到800~1700nm; 8.多参数多条件筛分,chip编码识别,bar条形式的NG chip采用打点标记; 9.测试参数包括Ith、Pout、Vf、Rs、SE、Kink、λp、SMSR、θ⊥、θ∥等; 10.至少兼容bar条长度15~30mm、宽度(腔长)150~5000μm的测试需求、兼容芯片尺寸:长度(腔长)150~1500μm、宽度200~500μm、厚度85~150μm尺寸的测试需求。
|
| 预计采购时间: | 2025-11 |
| 备注: | |
本次公开的****政府采购工作的初步安排,具体采购项目情况以相关采购公告和采购文件为准。标书代写