光电芯片耦合手动测试系统(XJ2025000115)成交结果公告

发布时间: 2025年10月31日
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项目名称 项目编号 公告开始日期 公告截止日期 采购单位 付款方式 联系人 联系电话 签约时间要求 到货时间要求 预算总价 发票要求 含税要求 送货要求 安装要求 收货地址 供应商资质要求 公告说明
光电芯片耦合手动测试系统****
2025-10-27 17:43:442025-10-30 10:00:00
****供方提供货物至需方指定地点经安装验收合格,双方签字确认后,七个工作日内支付全部货款。
合同签定生效后7个工作日内
****八里台校区伯苓楼七楼B701

符合《政府采购法》第二十二条规定的供应商基本条件

采购清单1
采购商品 采购数量 计量单位 所属分类
光电芯片耦合手动测试系统 2
品牌 型号 预算单价 技术参数及配置要求 参考链接 售后服务
光纤手动耦合位移台采用XY行程 13mm,Z行程6.5mm,,精度 0.5um,角度可调范围+4°的六轴手动高精度耦合滑台。芯片放置台温控范 围0°C~120℃,温度分辨率<0.05℃,XYZR 四轴可调,XY:+6.5mm,Z行程 8mm,R轴 360°,粗调 1°。观察系统:垂直方向,XYZ+Z微调轴,行程 40mm,镜头:0.7-4.5X 变倍+10X,工作距离~25mm,侧向XYZ 可调,行程 40mm,镜头:0.7-4.5X 变倍,工作距离 110mm。射频探针台调整精度 3um,五轴多角度调节,XYZ 调节范围12mm,角度可调范围10°,最小读数 5',定制高频探针夹具配套间距10mm-20mm。直流探针台三轴可调,XYZ行程13mm,精度3um
按国家法定或行业要求提供售后服务。
变更信息
成交供应商: 成交金额: 变更理由:
¥ 138500
符合要求,价格最低
招标进度跟踪
2025-10-31
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光电芯片耦合手动测试系统(XJ2025000115)成交结果公告
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