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| X射线能谱仪 | 牛津仪器 | 490000.00 | 485000.00 | 按行业标准提供服务 | 1. ★原装进口产品,完全适配FIB双束电镜(型号:赛默飞 Scios 2 DualBeam) 2. 技术指标(型号: 牛津仪器Ultim Max 65) 2.1★探测器:分析型SDD硅漂移电制冷探测器,有效面积≧65mm2。 2.2▲探测器窗口: 高分子超薄窗设计, 不会引入Si元素和N元素的杂峰。 2.3 封闭式真空系统,无需借助SEM抽放真空。 2.4 重元素能量分辨率:Mn Ka保证优于127eV(@计数率130,000cps),符合ISO 15632:2012标准。 2.5 轻元素能量分辨率:F Ka 保证优于64eV(@计数率130,000cps),C Ka 保证优于56eV(@计数率130,000cps),符合ISO 15632:2012标准。 2.6 元素分析范围:Be4~Cf98。 2.7 探测器可软件控制自动伸缩。 3. 软件 3.1 具备元素spectrum Live实时刷新显示功能:可实时观测样品区域变化或者形态转变时,谱图spectrum的动态变化过程。 3.2 ▲具备元素面分布Live实时刷新显示功能:在样品台静止状态、移动及改变放大倍数时,均可实时显示电子图像、不同元素分布以及它们的叠加图。样品停止移动时,自动开启面分布图静态采集模式,得到更高清晰度的面分布图。 3.3 具备零峰修正功能,开机后无需重新修正峰位。 3.4 ▲线扫描分析每条线最高可包含点数≧8k点,可从线扫描结果重建单点谱图。可在水平或垂直方向进行多线依次采集。 3.5 电子图像最高分辨率≧8k*8k像素;元素面分布图分辨率最高≧4k*4k像素;可在电子图像上叠加元素分布图;可从面分布图上进行点、线谱图重建。 3.6 定性分析:可自动标识谱峰,可进行谱重构。 3.7 ▲定量分析:采用XPP基体修正技术。 3.8 具备KLM全谱线系数据库,配置20kV及5kV高低电压定量数据库,可覆盖不同电压下的定量分析。 3.9 用户可利用微束分析标样建立相应元素的数据库,进行有标样定量分析。 3.10 ▲操作软件具备中英文等10种语言界面, 可自由切换。 4. 数据处理及计算机 4.1 工作站电脑1台; 4.2 数据处理电脑1台:操作系统win10/win11, 处理器Intel core i7或以上,内存≥32G,固态硬盘≥2TB.显示器27' LCD, 具有刻录光驱 | 1.0套 | Ultim Max 65 | 485000.00 | **** |