[HF20260100]光谱偏振响应探测器器件测试服务成交公告

序号

服务名称

服务内容

服务期限

1

单点器件上超表面的表面形貌测试

用电镜扫描样品表面，获得其微观形貌信息（SEM）。（必要时包含局部放大/关键结构区域，放大倍率20000×以上）。 输出：带比例尺的高清SEM图（建议 ≥8–10 个视场/样品），并注明测试条件（加速电压、倍率、工作距离等）。 提供图片原文件（jpg/tif）及简要测试记录/报告。

合同签署日起一周内完成

2

单点器件上超表面的表面形貌测试

利用聚焦离子束对材料进行纳米尺度的切割、沉积与加工（FIB），主要用于制备TEM观测所需的特定位置薄片样品。并对关键结构进行截面形貌观察（可包含保护层沉积与精细抛光步骤）。 输出：截面 SEM/FIB 图像（带比例尺），并给出关键尺寸/层厚等可读信息（如适用）。 提供制样与测试参数说明及简要报告。

合同签署日起一周内完成

3

单点器件上超表面的表面形貌测试

用电子束穿透超薄样品，对其内部晶体结构及原子排列进行高分辨率成像（TEM）。 输出：截面TEM 图像（带比例尺），并给出关键尺寸/层厚等可读信息（如适用），放大倍率达到100000×，每个样品15-20张图。 提供制样与测试参数说明及简要报告。

合同签署日起一周内完成

4

超表面材料性能测试

通过X射线在晶体中的衍射效应，分析材料的晶体结构与物相组成（XRD）。对样品进行扫描，完成物相/晶体结构分析（峰位、相匹配、择优取向等基础结论）。 输出：XRD 谱图、主要衍射峰标注及相匹配结果；注明测试参数（扫描范围、步进、靶材等）。 提供原始数据（如 .raw/.txt）及简要测试报告。

合同签署日起一周内完成

5

超表面材料性能测试

测量薄膜厚度与光学常数 n,k（按材料与模型拟合），并评估均匀性。 输出：厚度结果（单点或多点 mapping）、拟合曲线与误差指标；注明测量波段/入射角/模型等参数。提供原始椭偏谱数据与测试报告。 每个样品在均匀的中间区域取10个点进行测试。

合同签署日起一周内完成

6

超表面材料性能测试

通过测量X射线激发的光电子能量对样品进行测试（XPS），完成表面元素组成与化学态分析（元素种类、价态、半定量原子百分比等基础结论）。 输出：XPS 全谱与精细谱图、主要元素峰位标注及化学态拟合结果；注明测试参数（激发源、分析器模式、步长、电荷校正方法等）。 提供原始数据（如 .vms/.txt）及简要测试报告（含各元素峰位置、原子百分比及可能的化学态归属）。

合同签署日起一周内完成

7

超表面材料性能测试

对器件/薄膜样品开展电学参数表征，获得并输出以下关键电学参数（含数据与计算过程、测试过程所加参数说明）： 片电阻 电阻率 霍尔系数 载流子类型 载流子浓度 迁移率 每个样品取5个点，每个点重复测试10次取平均值。 提供原始数据与测试报告。

合同签署日起一周内完成