静电放电测试系统采购项目

A****0205集成电路参数测量仪

1.1数量：2套 静电放电测试系统（第一台）指标如下： 2.1 测试模型包括人体模型（HBM）、闩锁模型（LU）。 2.2 设备标配测试通道数≥256个。 2.3 提供独立的板卡或组件，单设备的测试通道数扩展至512个。 2.4 人体模型HBM模式下，满足AEC-Q100-002、AEC-Q101-001、MIL-STD-883、ANSI/ESDA/JEDEC JS-001、GJB548C等标准对设备的要求，最高测试电压≥±8000V，最低电压≤±30V，电压分辨率/步进电压≤5V，有10kΩ旁路电阻的开/关选项。 2.5 低寄生电容测试中的Side A和Side B的波形满足ANSI/ESDA/JEDEC JS-001-2023标准Annex C规定。 2.6 最小测试速率（间隔时间）≤100ms。 2.7 闩锁模型（LU）须满足JEDEC EIA/JESD78、AEC-Q100-004标准对设备的要求，支持Overvoltage Test、I-Test。 2.8 至少6组电源（包括1组CP电流源）：包括2组100V/1A,2组35V/1A，1组30V/5A，1组电流源1A/100V。 静电放电测试系统（第二台）指标如下： 3.1 测试模型包括人体模型（HBM）、闩锁模型（LU）。 3.2 设备标配测试通道数≥256个。 3.3 人体模型HBM模式下，满足AEC-Q100-002、AEC-Q101-001、MIL-STD-883、ANSI/ESDA/JEDEC JS-001、GJB548C等标准对设备的要求，最高测试电压≥±8000V，最低电压≤±30V，电压分辨率/步进电压≤5V，有10kΩ旁路电阻的开/关选项。 3.4 低寄生电容测试中的Side A和Side B的波形满足ANSI/ESDA/JEDEC JS-001-2023标准Annex C规定。 3.5 闩锁模型（LU）须满足JEDEC EIA/JESD78、AEC-Q100-004标准对设备的要求，支持Overvoltage Test、I-Test。 3.6 至少6组电源（包括1组CP电流源）：包括2组100V/1A,2组35V/1A，1组30V/5A，1组电流源1A/100V。

检测