大规模集成电路动态测试系统采购项目

A****0205集成电路参数测量仪

2.2.1频率：≥12.5M 。 2.2.2 184路独立可编程，152路为驱动输出（支持三态输出），32路为双向IO，每个双向PIN可独立配置成输入或者输出。 2.2.3 Driver电压范围，驱动电流50mA；VIH： 0.5-5V；V0H： 1.0-5V。 2.2.4 Pattern深度：≥16M行。 2.2.5空载输出信号边沿：Tr≤10ns，Tf≤10ns。 2.2.6 Timing调整分辨率：5ns。 2.2.7指令：ADV、HALT、SFx、CRFx、LIx、MSSA 2.2.8跳转指：JUMP、RPT、JIx、JNIx、JFx、JNME 2.2.9调用指令：CALL、RET 2.2.10 支持通过配置文件加载老化板信息、Error错误信息、Timing配置信息 2.2.11 老化板槽位≥32 2.3.1 DPS支持OCP、OVP、UVP 2.3.2 DPS配置电源延时上电 2.3.2 DPS电源支持线性斜率上电，可设置线性上电时间 2.3.4 DPS0~DPS1，电压范围不小于0.5~6V，电流不小于25A 2.3.5 DPS2~DPS3，电压范围不小于0.5~10V，电流不小于10A 2.3.6 DPS4~DPS5，电压范围不小于0.5~6V，电流不小于20A 2.3.7 DPS6~DPS7，电压范围不小于0.5~6V，电流不小于10A 2.3.8单个老化板最大DPS功率≥500W 2.3.9可检测每路程控的二级电源的输出电压，并描绘电压-时间曲线。检测范围：0~10.0V，检测误差：≤1%±0.01V 2.3.10可检测每区DPS的二级电源的总输出电流，并描绘电流-时间曲线。检测范围：0~25A，检测误差：≤1%±0.05A 2.3.11可检测高温试验箱温度，并描绘温度-时间曲线。检测范围：0~150℃，检测误差：≤1%±1℃ 2.4.1 试验温度范围：室温-150℃ 2.4.2 温度波动度：≤±0.5℃ 2.4.3 温度均匀性：≤±2℃（125℃时） 2.4.4 温度偏差：≤±1℃ 2.4.5 温度过冲：≤3℃ 2.4.6 可测试、记录高温试验箱的实验温度。系统自动采集高温线工作状态，当高温试验箱超温时，报警并自动终止试验，同时记录结束时的数据及故障时间。 2.4.7 保护功能：独立于系统的超温保护装置（控制误差≤±3℃）和漏电保护装置。超温时，系统自动关闭高温线加热，自动终止所有老化区的试验，以确保试验器件的安全性。 2.4.8能够数字显示试验箱温度，记录试验箱温度，可表格形式和曲线描绘形式显示试验全过程的温度参数，并记录温度超限的时间，并具有超温报警保护功能。

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