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晶体元器件全自动外观检测系统
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基本信息
询价单名称: 晶体元器件全自动外观检测系统
询价单编号: ****
询价人名称: 沈卓然
询价时间: 2026-01-28 15:35:22
询价人电话: 159****3026
采购类型: 单次采购
采购企业: 北****研究所
报价商品
| 1 | - | 晶体元器件全自动外观检测系统 | 其他 | 附加技术条件:适用范围：SMD 7050～SMD 2016,主要功能：六面外观缺陷检测，拍照留存，自动编号识别，单件检测时间：≤10s，最小可检缺陷尺寸：0.05mm，重复定位精度：±0.1mm | - | - | 1.0 | 个 | 一次性交货 | - | - | 请注明厂家、型号及详细技术指标 |
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2026-01-28
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