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| CP测试探卡 | 项目编号**** | |
| 2026-01-31 08:55:21 | 公告截止日期2026-02-03 09:00:00 | |
| **** | 付款方式合同签订后30%,验收后合格70% | |
| 联系电话 | ||
| 到货时间要求 | 成交后3个自然日内 | |
| ¥ 85000.00 | ||
| **市**** | ||
| 符合《政府采购法》第二十二条规定的供应商基本条件 |
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| CP测试探卡 | 1 | 套 |
| ¥ 85000.00 |
| PAD数量: 103 PIN 间距: 最小 150um PAD类型:28K AL CUP(min=开窗为60umX60um) 电流:单针电流最大1A 电压:<1.8V 频率:20Mhz Wafer notch方向:向下 测试温度:25℃ 测试平台:93K DD EXA SCALE 同测数:1 site 制作周期:要求2026年4月15日前交付 |