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透射电子显微镜(TEM)、聚焦离子束显微镜(FIB)以及二次离子质谱(SIMS)等半导体测试分析
招标详情
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****2026年5至6月政府采购意向-透射电子显微镜(TEM)、聚焦离子束显微镜(FIB)以及二次离子质谱(SIMS)等半导体测试分析 详细情况
| 透射电子显微镜(TEM)、聚焦离子束显微镜(FIB)以及二次离子质谱(SIMS)等半导体测试分析 | |
| 项目所在采购意向： | ****2026年5至6月政府采购意向 |
| 采购单位： | **** |
| 采购项目名称： | 透射电子显微镜(TEM)、聚焦离子束显微镜(FIB)以及二次离子质谱(SIMS)等半导体测试分析 |
| 预算金额： | 1100.000000万元(人民币) |
| 采购品目： |
C****0000-技术测试和分析服务
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| 采购需求概况 ： |
****研究所****中心主要承担集成电路先进器件与关键工艺的研发工作，先进工艺与器件的研发过程中，需要大量使用例如TEM（透射电子显微镜）、FIB（聚焦离子束）等先进的物理分析手段进行物理结构表征，以及例如SIMS（二次离子质谱）、EDX（能量散射型X射线荧光光谱）等先进的成分分析手段进行元素分布表征，先导中心不具备分析测试能力，需要委外进行。
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| 预计采购时间： | 2026-06 |
| 备注： | |
本次公开的****政府采购工作的初步安排，具体采购项目情况以相关采购公告和采购文件为准。标书代写
招标进度跟踪
2026-02-26
招标预告
透射电子显微镜(TEM)、聚焦离子束显微镜(FIB)以及二次离子质谱(SIMS)等半导体测试分析
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