显微透反射测试系统

“显微透反射测试系统；1套；参数如下： 1.系统采用模块化搭积木式叠加方式，可实现400-2400 nm透反射光谱检测功能，支持荧光、拉曼、SHG测量及光电流表征测量等功能拓展。 2.系统配置两台光纤光谱仪，可见波段光纤光谱仪，搭载制冷型面阵背照CCD探测器，探测波段325-1100 nm，100 um狭缝，分辨率不大于3.56 nm，信噪比不小于1000:1（饱和时）像素数1024*64，最短积分时间不大于4 ms，制冷温度最大制冷低于环境温度 40℃；峰值量子化效率95%。近红外波段光纤光谱仪，搭载制冷式InGaAs阵列探测器，接收波段900-2500 nm，狭缝100 μm，光谱分辨率不大于15.62 nm，信噪比不小于7000：1（饱和时），像素数256，最短积分时间不大于1 ms，制冷温度最大制冷低于环境温度 40℃。 3.系统配备四颗显微机台适配物镜，4X平场半复消色差物镜，W.D.=17 mm，N.A.=0.13；10X平场半复消色差物镜，W.D.=10 mm，N.A.=0.3；100X平场半复消色差物镜，W.D=1 mm，N.A.=0.9； 40X镀紫外增强铝膜反射式物镜，W.D=7.8 mm，N.A.=0.5，确保325-2500 nm系统透过率。 4.系统配置自动化电控结构并搭配相应控制软件，每个电动切换部件上具备独立的三维微调螺杆机构，支持光谱检测模式与显微成像模式的电动切换。 5.电动切换模块的切换重复性需优于1 μm。 6.系统需配置闭环电动样品台，内置光栅尺，最大行程不低于75 mm 50 mm，准确度优于±1 μm，双向重复性优于1 um，最小步距不大于100 nm，支持硬件摇杆和软件进行控制，支持mapping扫描； 7.系统需配置自动化控制软件，需实现光谱测量模式切换、位移台控制、照明强度控制等功能。软件需支持基于样品图像，自定义选择待测点位及区域，进行原始光谱mapping，支持多个样品点位记录存储功能，支持mapping数据的二次导入及处理； 8.系统后期需可支持原系统一体化扩展拉曼、荧光、二次谐波等功能，支持外部光源导入。“