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| 高性能光谱探测系统 | 1.0/ | **超微光学(OtO) | EE6148E | 制冷:环境温度 25 °C 下可降至 0 °C 1. 波长范围:350-920 nm(波长范围内可选) 2. 狭缝宽度:25 um 3. 分辨率:< 2.3 nm@25 um 4. 传感器:1024pixel 低噪声背照式 CCD,搭配 18 位元 ADC 5. 讯杂比(信噪比):1000 6. 动态范围:32000 7. 暗噪声:8 8. 体积:130×96×39.5mm 光纤接口:SMA905 or FC/PC 9. 应用领域:半导体检测(膜厚量测、电浆检测)、椭偏检测;适配拉曼光谱学、椭圆偏振光测量、高级 LED 测量等高端检测场景;满足 200-900 nm 宽波长电浆检测(分辨率约 1 nm)、全波段紫外 / 可见 / 近红外回应平衡需求。 10. 用标准 C-T 型(Czerny-Turner)光路设计,温湿度、震动、撞击稳定性优异 支持杂散光校正算法,杂散光比例可达 < 0.01%,可选择 Pixel Binning 功能(2/4/8/16 档),实现感度倍增 11. 高容量内存,支持高速撷取光谱、多重曝光时间设定、多重触发模式 数据传输接口:兼容 USB、Ethernet 网口、UART 串口 自带高速计算能力,可快速完成光谱、颜色计算,批量传输曝光数据至测量系统验证 12. 配套与兼容 光纤:适配 SMA905、FC/PC/FC/APC 接口,兼容 200-1100 nm 紫外 - 可见、400-2200 nm 可见 - 近红外波段光纤 软件:适配 t 图谱处理软件,提供原厂软件开发包(含范例源代码),支持二次系统 | 按行业标准提供服务 |