全自动化学发光图像分析系统（JJ2026000325）延期公告

延期理由：

由于该项目报价情况不满足要求，本项目延期至2026-03-20 18:00

项目名称

全自动化学发光图像分析系统

项目编号

****

公示开始日期

2026-03-19 17:08:06

公示截止日期

2026-03-20 18:00:00

采购单位

****

付款方式

供方提供货物至需方指定地点经安装验收合格，双方签字确认后，七个工作日内支付全部货款。

联系人

中标后在我参与的项目中查看

联系电话

中标后在我参与的项目中查看

签约时间要求

到货时间要求

按照合同约定执行

预算

未公布

收货地址

****八里台校区综合实验楼C103

供应商资质要求

符合《政府采购法》第二十二条规定的供应商基本条件

公告说明

由于该项目报价情况不满足要求，本项目延期至2026-03-20 18:00

采购物品

采购数量

计量单位

所属分类

全自动化学发光图像分析系统

1

台

品牌

Tanon

规格型号

Tanon 5200

技术参数

1.摄像头：高分辨低照度数码制冷CCD摄像头 2.★制冷温度：≤-65℃（提供CCD摄像头厂家证明文件） 3.CCD分辨率：≥2600×2200 4.量子效率：CCD芯片光电转换效率≥75% 5.暗电流噪声：≤ 0.00015 e-/p/s 6.摄像头镜头接口：大尺寸M42接口，直径≥42mm，非小尺寸C接口 7.★电动镜头：最大光圈F值≤0.8 8.电动调焦：可通过软件进行镜头的电动聚焦调整 9.★成像距离：样品到镜头前端最近成像距离≤8cm，支持微距拍摄 10.样品台：上下双层样品台设计，可兼容拍摄样品厚度0.01mm - 10cm 11.全中文拍摄分析软件，自动识别8bit、16bit的图像以及序列图像。 12.★区域自动曝光: 可自由选择曝光识别区域，实现精确自动曝光 13.单张自动曝光: 无需手动设置曝光时间，系统自动识别样品强度并自动设置最佳单张曝光时间，获得单张图像 14.★序列自动曝光: 无需手动设置曝光时间，系统自动识别样品强度，并自动设置最佳序列曝光时间，一次自动曝光即可获得≥5 张图像 15.序列保存: 具有序列图像保存功能，无需单张图片分别存储 16.溢出提示: 在拍摄中可显示过饱和像素，保证精确定量 17.克隆分析：具有克隆分析功能，计算菌落数量并按大小排序，结果可生成Excel 18.★斑点分析：具有斑点分析功能，可对圆形、方形Dots 进行检测，并可生成数据报告，可选择设定多个标准点的标准值进行计算

生产厂家

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售后服务

按国家法定或行业要求提供售后服务。