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折射率检测XJ125112200062-1
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投标截止时间
2026-03-26
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400-688-2000
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***********公司企业信息
折射率检测
可报价开始时间：2026-03-24 15:37:00
可报价结束时间：2026-03-26 16:34:00
编号：****
发布单位：****
最终单位：****
参与方式：公开询价
出价方式：一次性出价
付款方式：验收合格付款
是否必须加盖电子签章：是
保证金：0.0元
联系人：赵志荣
联系方式：158****5698
备注：
采购方发布的采购清单
| 商品名称 | 品类 | 采购数量 | 最少响应量 | 规格 | 材料 | 检测要求 |
| 折射率检测 | 非金属材料>光学材料及制品 | 12.0件 | 12.0件 | 25*20*6.19 | Ge | 按照GJB/2919A-2015《红外光学用锗》折射率测试标准中4μm、8μm、9μm、10μm四个波长点的折射率要求分别为：4.0243、4.0057、4.0044、4.0035,； |
| 折射率检测 | 非金属材料>光学材料及制品 | 12.0件 | 12.0件 | 25*20*6.19 | Ge | 折射率允许偏差±0.0004，测试环境温度（20±3）℃。 |
| 折射率检测 | 非金属材料>光学材料及制品 | 1.0件 | 1.0件 | 25*20*6.19 | Ge | 测试温度-40℃、-30℃、-20℃、-10℃，每个温度下测试波长为2.7μm、3.0μm、4.2μm、4.5μm，提供折射率实测值。 |
| 折射率检测 | 非金属材料>光学材料及制品 | 1.0件 | 1.0件 | 25*20*6.19 | Si | 测试温度-40℃、-30℃、-20℃、-10℃，每个温度下测试波长为2.7μm、3.0μm、4.2μm、4.5μm，提供折射率实测值。 |
招标进度跟踪
2026-03-24
招标公告
折射率检测XJ125112200062-1
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