集成电路失效分析共性技术服务平台采购

发布时间: 2026年05月07日
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项目预算 ¥1,200,000.00
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截止时间 2026-05-15 18:00 标书代写
需求描述 本项目计划采购一套半导体特征参数测试系统,旨在解决集成电路芯片失效分析长期依赖外部机构、检测周期长、成本高的现实问题,建设失效分析与可靠性研究平台,实现失效数据的采集、分析与诊断。当前**地区缺乏高端芯片失效分析服务能力,本地企业面临送样难、响应慢等困难,本项目将填补这一空白,为区域企业提供技术支持。同时,平台建设契合**市集成电路产业政策,既服务企业产品可靠性提升,也为学校双高建设、职业本科发展及师生科研实践提供硬件支撑,实现产业服务与人才培养的相互促进。
关键词 集成电路失效分析
附件(3)
招标进度跟踪
2026-05-07
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