招标详情
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400-688-2000
项目预算 ¥1,200,000.00
需求单位
单位联系人
截止时间 2026-05-15 18:00 标书代写
需求描述 本项目计划采购一套半导体特征参数测试系统,旨在解决集成电路芯片失效分析长期依赖外部机构、检测周期长、成本高的现实问题,建设失效分析与可靠性研究平台,实现失效数据的采集、分析与诊断。当前**地区缺乏高端芯片失效分析服务能力,本地企业面临送样难、响应慢等困难,本项目将填补这一空白,为区域企业提供技术支持。同时,平台建设契合**市集成电路产业政策,既服务企业产品可靠性提升,也为学校双高建设、职业本科发展及师生科研实践提供硬件支撑,实现产业服务与人才培养的相互促进。
关键词 集成电路失效分析
附件(3)
3.调查表.docx下载预览
2.重庆电子科技职业大学集成电路失效分析共性技术服务平台采购项目(技术)要求.docx下载预览
1.重庆电子科技职业大学集成电路失效分析共性技术服务平台采购项目采购需求调查公告.docx下载预览