询价通知（邀请）书 编号ＷＴＪ2026-009

****就“临氢服役管道材料渗氢扩散行为与氢脆作用机制研究”科研项目试件测试采购采用邀请询价方式进行，欢迎各供应商报名参加。

一、 供应商需知

1、试件要求详见附件1；

2、报价单格式详见附件2；

3、标底价为4.85万元。

二、 供应商资格要求

1、具有独立承担民事责任的能力；

2、具有良好的商业信誉；

3、法律、行政法规规定的其他条件。

三、报价时需提交以下资料

1、营业执照复印件；

2、报价单；

3、以上所有资料（加盖公章）请放在袋子中予以密封，邮寄到第四项的相应地址并在密封袋封面注明项目名称或编号。

四、报价时间及地点

1、报价起止时间：2026年5月11日09:30—2025年5月15日09:30；

2、报价资料寄送地点：**市鹿**丰门街道鞋都一期31号地块质检特检大楼607室；

3、联系人：王老师 联系电话：0577-****6008。

五、本次询价严格按照在符合采购单位采购需求的前提下总价最低者中标的方式选定成交供应商；总价相同的情况下，将进行二次竞价。

六、询价文件获取方式：网络公开邀请。

七、院纪检监督电话：0577-****6621。

八、询价结果将在报价截止日后3个工作日内在****网站上公布，并视有效送达，不再另行通知。

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2026年5月11日

附件一

具体要求

一、主要内容

1.项目名称：金属材料微观图像分析服务

2.项目内容：

a. SEM测试：4个试样，每个试样需提供≥5张高质量图像，包括：低倍断口全局图，500倍、1000倍放大图（需标注标尺）、重点区域高分辨率图等。

b. TEM测试：4个试样，每个试样提供≥5 张高质量 TEM 图像，包括：低倍组织形貌图、位错组态图、选区电子衍射（SAED）图等，所有图像均标注标尺。

c. SSRT测试：4个试样，按照标准试验规程对试样进行慢应变速率拉伸试验，设定统一应变速率，在指定环境/介质条件下完成拉伸至断裂。

d. EBSD测试：4个试样，针对裂纹或高应变区域，提供晶粒取向、相分布等数据。每个试样需要提供≥2个位置、每个位置不少于2张的高质量图像。

e. 高能XRD测试：2个试样，采用高能X射线衍射对试样进行体相/层晶体结构分析，获取完整衍射谱图。

f. 热脱附氢（TDS）测试：8个试样，采用程序升温方式测定材料基体中可扩散氢与不同束缚态氢的释放特征，记录氢析出曲线（氢通量-温度曲线），提供完整TDS谱图、氢含量定量计算结果。

g. 测试期限为我院提供样品后一周内完成。

二、技术要求

1.SEM测试要求（共4件）：

设备：场发射扫描电镜（SEM），分辨率≤1nm（15kV下）。

参数：加速电压5-20kV，工作距离5-15mm，混合背散射（BSE）与二次电子（SE）探测器。

图像格式：TIFF原始数据，分辨率≥2048×1536像素，附能谱（EDS）点扫/面扫结果。

2. TEM测试要求（共4件）

设备：透射电子显微镜（TEM），点分辨率≤0.2nm，线分辨率≤0.1nm，配备选区电子衍射（SAED）功能及高分辨成像模式。

参数：加速电压可调节（80-200kV），可实现低倍形貌观察、高分辨晶格成像及位错组态观察，配备样品倾转台，确保能捕捉试样典型区域（低倍组织区、位错区等）图像。

图像格式：TIFF原始数据，分辨率≥2048×2048像素，所有图像均清晰标注标尺，选区电子衍射（SAED）图需标注衍射斑点对应晶面指数。

3. SSRT测试要求（共4件）

设备：电子万能试验机，载荷精度≤±0.5%FS，位移精度≤±0.01mm，配备环境/介质模拟装置（可满足指定测试环境/介质要求）及慢应变速率控制模块。

参数：应变速率可精准调节并保持统一（根据试验需求设定），试验过程中可实时采集载荷、位移、时间数据，采样频率≥10Hz，可实现拉伸至试样断裂的全程自动化控制。

数据输出：每个试样输出完整的应力-应变曲线、屈服强度、抗拉强度、延伸率、断面收缩率及时间-载荷数据报表，曲线清晰、数据准确，可导出原始测试数据文件。

4. EBSD测试要求（共4件）

设备：场发射扫描电镜（SEM）配套EBSD探头，角分辨率≤0.5°，解析率≥95%，配备EBSD专用数据分析软件。

参数：加速电压10-20kV，工作距离8-15mm，步长可调节（≤0.1μm），设备具备拼图功能，可实现局部区域及全局区域成像，支持晶界间相识别功能。

分析区域：每个试样选取≥2个典型位置（优先裂纹或高应变区域），每个位置采集区域需覆盖目标特征，确保能获取有效晶粒取向及相分布数据。

5. 高能XRD测试要求（共2件）

设备：高能X射线衍射仪，X射线源为同步辐射或高能转靶，光子能量≥60keV，探测器分辨率≤0.01°，具备体相/层状晶体结构分析功能。

参数：扫描范围可根据试样晶体结构调节（2θ范围满足物相分析需求），扫描速度可调节，具备高计数率、高稳定性，可有效抑制背景噪声。

测试要求：选取试样无损伤、代表性区域开展测试，确保获取完整、清晰的衍射谱图，无明显杂峰干扰，可满足物相定性、晶格常数计算等后续分析需求。

6. 热脱附氢（TDS）测试要求（共8件）

设备：热脱附氢分析仪，配备高灵敏度氢检测器（检测限≤1×10-9mol/g），程序升温范围室温至1000℃，升温速率可精准调节（0.5-20℃/min）。

参数：真空度≤1×10-5Pa，试样加热均匀，无局部过热现象，可实时记录氢析出通量与温度的对应关系，数据采集频率≥1Hz。

测试要求：采用程序升温方式测定材料基体中可扩散氢与不同束缚态氢的释放特征，确保氢析出曲线（氢通量-温度曲线）光滑、特征峰清晰可辨，无基线漂移干扰。

三、其他

验收标准：图像清晰度、标尺准确性、缺陷覆盖率符合技术附件要求。拍摄完成后样品需同拍摄报告一并交付。

保密协议：投标方不得泄露样品信息及检测数据。

违约责任：逾期交付按日扣除合同总额0.5%，重大失误需免费重测。

附件二

报价单

注：此报价包含运输费、税费、技术服务费等。

公司全称：

联系人：

联系方式：

询价通知（邀请）书09.doc