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项目编号: **** 报价截止: 2026-05-19 17:00 付款方式: 货到付款 采 购 方: ****医院 预 算: 未公布 采购单位: **** 联系电话: 中标后可见 发票要求: 增值税专用发票 联 系 人: 中标后可见 签约时间: 成交后 90 个工作日 到货要求: 签约后 90 个工作日 谈判会时间: 无
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透明膜厚测试仪
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1
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台
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未公布
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参考品牌型号:
请响应厂商必须备注品牌及型号,否则视为无效响应,-
技术参数与配置:
1、主要用途:采用无损非接触式光学测量,测量薄膜厚度,辅助测量其光学常数(如折射率n值和消光系数k值);测量分析纳米到微米级薄膜膜层情况,改进镀膜工艺,监测膜层质量。 2、详细技术指标 1)测量范围:1nm - 260 μm(取决于材料,此为测量二氧化硅厚度范围) 2)测量n和k值最小厚度要求:50nm 3)波长范围:190-1100nm 4)准确度(较大者):1nm或0.2% (针对附带的硅上...展开
售后质保:
培训要求: 培训对象:操作人员、维护人员,≥3人 培训时间:设备调试合格后现场培训,总时长≥6小时,1-2天完成 培训内容: 设备基础认知、安全注意事项及操作逻辑 设备开关机、参数设置、键合操作实操 日常维护、耗材更换、易损件识别与更换 常见故障排查、解决及紧急停机操作 相关技术文档查阅方法 培训效果:培训后考核,不合格者免费二次培训至合格 培训资料:提供操作手册、维护手册等,纸质...展开
产品资质要求:
无
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参考品牌型号:
请响应厂商必须备注品牌及型号,否则视为无效响应,-
技术参数与配置:
1、主要用途:采用无损非接触式光学测量,测量薄膜厚度,辅助测量其光学常数(如折射率n值和消光系数k值);测量分析纳米到微米级薄膜膜层情况,改进镀膜工艺,监测膜层质量。 2、详细技术指标 1)测量范围:1nm - 260 μm(取决于材料,此为测量二氧化硅厚度范围) 2)测量n和k值最小厚度要求:50nm 3)波长范围:190-1100nm 4)准确度(较大者):1nm或0.2% (针对附带的硅上...展开
售后质保:
培训要求: 培训对象:操作人员、维护人员,≥3人 培训时间:设备调试合格后现场培训,总时长≥6小时,1-2天完成 培训内容: 设备基础认知、安全注意事项及操作逻辑 设备开关机、参数设置、键合操作实操 日常维护、耗材更换、易损件识别与更换 常见故障排查、解决及紧急停机操作 相关技术文档查阅方法 培训效果:培训后考核,不合格者免费二次培训至合格 培训资料:提供操作手册、维护手册等,纸质...展开
产品资质要求:
无
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