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需求量:6.0个 规格描述:规格型号:利用标准尺寸测量器具对6个晶体传感器的尺寸进行测试;技术标准:检测机构需为国防一级计量站或国家授权的省级及以上计量机构
询价基本信息
询价单名称：
晶体传感器性能指标测试
采购企业：
****公司******研究所
询价人姓名：
吴琼
对供应商的要求：
公司章程
报价要求
比价结果有效期：
2027-05-31
合同/报价截止时间： 标书代写
2026-05-31
报价要求：
含税报价
允许变更商品规格报价
允许变更品牌/制造商报价
允许部分报价
允许多个报价方案
报价价格类型：
到厂价
币种：
人民币
付款方式：
验收合格后付款
交货地址：
****经海二路29号院9号楼
补充说明：
无
询价附件：
晶体传感器指标测试技术要求.docx 下载
询价商品或服务详情
| 1 | 测温性能测试 | 其他服务/其他未分类服务 | 规格型号:利用高温炉对晶体传感器进行加热试验，在600-1450℃温度范围内选定14个测温点（其中最低测温点≤600℃、最高测温点需≥1450℃），详见测试温度表，每个温度点保持5min，每个测温点分别对随机选取的3个微晶传感器进行加热试验，将每个晶体传感器的测温结果与标准器具的测温结果进行比对;技术标准:检测机构需为国防一级计量站或国家授权的省级及以上计量机构 | 3.0 | 个 | 一次性交货 | ||||||
| 2 | 尺寸测试 | 其他服务/其他未分类服务 | 规格型号:利用标准尺寸测量器具对6个晶体传感器的尺寸进行测试;技术标准:检测机构需为国防一级计量站或国家授权的省级及以上计量机构 | 6.0 | 个 | 一次性交货 |
附件（1）
附件_596955544_378073548.docx下载预览
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2026-05-14
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