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核探测器用半导体晶体低温霍尔测试系统

上海 -上海

发布时间： 2026年06月17日

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探测器半导体晶体低温霍尔

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****2026年07月政府采购意向-核探测器用半导体晶体低温霍尔测试系统详细情况

核探测器用半导体晶体低温霍尔测试系统
项目所在采购意向：	****2026年07月政府采购意向
采购单位：	****
采购项目名称：	核探测器用半导体晶体低温霍尔测试系统
预算金额：	130.000000万元(人民币)
采购品目：
采购需求概况：	核探测器用半导体晶体低温霍尔测试系统一套，主要功能：1、载流子浓度测试。单位面积/体积的载流子(自由电子)数量 2、载流子迁移率测试。载流子(自由电子)在材料中单位时间内的移动距离,也就是迁移率 3、电阻率。半导体材料的电阻率 4、霍尔系数。载流子(自由电子)灵敏度 5、变温环境(-190 ~ +600度测试)。在不同温度下看半导体材料的变化技术参数： 1、大范围电阻率测试能力, 0.1m ohm/sq -100G ohm/sq 2、电流源可输出pA级电流 3、磁场可自动翻转,以符合规范要求 4、变温范围可达-190度 ~ 600度 5、变温下样品测试面积可达22*22mm 6、稳定的磁场,如0.5T左右的永磁体 7、可在常温下XYZ移动的探针座,4个. 8、大面积承载台,可直接放置6inch样品盘。供货周期合同签订后4个月，质保2年。
预计采购时间：	2026-07
备注：