集成电路学院实验中心建设-数字芯片测试模块

发布时间: 2026年07月01日
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***********公司企业信息
****实验中心建设-数字芯片测试模块(****)自购结果公示
发布时间:2026-07-01
该项目经自行采购程序,允许自购:
供应商: 中标金额:
****
75000
公示开始日期 公示截止日期 采购单位 付款方式 签约时间要求 到货时间要求 收货地址
2026-07-012026-07-02 16:50:26
****货到验收合格后付款100%
**大学软件园校区教学楼2区4层
采购清单1
采购物品 采购数量 计量单位
数字芯片测试模块 1
品牌 规格型号 技术参数 售后服务
曾益慧创IECUBE-3839-Dpattern
1、模块包含Digital Pattern,16通道,逻辑电平3.3V,最大采样率125MS/s; 2、支持LabVIEW、C#和Python多工具链编程开发; 3、设备搭载面包板,至少提供4种真实芯片的待测件,包含但不限于74系列数字芯片、运放模拟芯片、ADC混合芯片等; 4、提供半导体测试工程师集成电路测试**包,提供实验指导书不少于1份,实验源代码存于U盘或者光盘中; 5、74数字芯片可测参数包含但不限于:导通电源电流ICCL,截止电源电流ICCH,低电平输入电流IIL,高电平输入电流IIH,输出高电平电压VOH,输出低电平电压VOL,电压传输特性测试,逻辑功能测试; 6、存储器芯片可测参数包含但不限于:输出高电平电压VOH,输出低电平电压VOL,高电平输入电流IIH,低电平输入电流IIL,输出高电平电压VIH,输出低电平电压VIL,tDW(写建立时间),tAA(读延迟时间); 7、配置操作系统1套。
服务网点:不限;质保期限:3年;响应期限:报修后4小时;报修后2小时内回应处理;


****管理部


2026-07-01

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2026-07-01
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集成电路学院实验中心建设-数字芯片测试模块
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