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像素探测器晶圆批量测试服务-废标公告
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像素探测器晶圆批量测试服务-废标公告
发布时间：2026-06-30 17:08
采购编号：
****
报价截止日期：
2026-06-30 00:00
废标原因：
因故取消，停止后续采购活动。
| 1 | 像素探测器晶圆批量测试服务 | 基于现有像素探测器晶圆和测试探针卡，进行批量ATE测试。该探测器是国家自然科学基金项目“超高帧频大动态范围X射线像素探测器”的读出芯片，为了满足项目模块生产的物料需求，将进行量产。量产后需通过晶圆测试筛选出非失效的芯片。 要求：基于第一次工程批的探针卡，进行测试程序开发，对42片晶圆进行测试，并给出良率报告。 | 批 | 1 | 合同签订后1~2周 |
招标进度跟踪
2026-07-02
废标公告
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当前信息
2026-06-11
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