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| 芯片测试高频验证设备 | 项目编号**** | |
| 2026-07-07 15:51:38 | 公告截止日期2026-07-10 16:00:00 | |
| **** | 付款方式货到验收合格后付100% | |
| 联系电话 | ||
| 到货时间要求 | 签订合同后30个自然日内 | |
| ¥ 300000.00 | ||
| **市**** | ||
| 符合《政府采购法》第二十二条规定的供应商基本条件 |
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| 芯片测试高频验证设备 | 1 | 套 |
| ¥ 300000.00 |
| 本设备需专属定制,针对6G、太赫兹通信、雷达、传感芯片在片高精度测试研发,兼容全频段扩频模块一体化安装专为太赫兹芯片微弱信号、高精度、多器件及建模同步验证,兼容光电互连芯片高频参数测试。 技术指标: 1. 二次拉升结构:支持二次抬升放片机构,大幅降低DUT装卸时剐蹭风险; 2. 幅度测量精度 ±0.003dB,相位漂移≤±0.05°/℃;迹线噪声 0.002dB RMS; 3. 支持 TRL/LRM/LRRM 在片校准,降低探针寄生误差; 4. 覆盖 DC~1.1THz,校准后插入损耗波动≤0.1dB; 5. 带气浮互锁、探针悬停防护,预留高低温、屏蔽、光学拓展接口; 6. 适配晶圆、MEMS、封装芯片全品类太赫兹器件验证; 7. 显微镜 XY 2inch×2inch 全域 1μm 定位,Z 轴 50mm 气动快换物镜; 8. CCD 实时微米焊盘对位观测; 9. 三档独立气浮 XY 行程 220×200mm,1μm 位移分辨率; 10. 五路独立真空吸附,360°旋转 +±7° 角度微调,无漂移保障 THz 微弱信号稳定。 11. 支持SOL、SOLT、SOLR、LRM等不同校准方法 要求供应商提供方案、图纸或者同类定制设备业绩。 |
| 36个月 |