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| 1 | 电子元器件 | 元器件/其它元器件 | 型号/件号:电阻;规格:电阻;技术标准号:ACGD-BZ-005;附加技术条件:外观检查,常温初测,温度冲击,常温终测,外观检查,打标记。 | 1.0 | 只 | 分批交货 | 2026/08/30 | |||||
| 2 | 电子元器件 | 元器件/其它元器件 | 型号/件号:电位器;规格:电位器;技术标准号:ACGD-BZ-005;附加技术条件:外观检查,常温初测,温度冲击,常温终测,外观检查,打标记。 | 1.0 | 只 | 分批交货 | 2026/08/30 | |||||
| 3 | 电子元器件 | 元器件/其它元器件 | 型号/件号:电感;规格:电感;技术标准号:ACGD-BZ-005;附加技术条件:外观检查,常温初测,温度冲击,常温终测,外观检查,打标记。 | 1.0 | 只 | 分批交货 | 2026/08/30 | |||||
| 4 | 电子元器件 | 元器件/其它元器件 | 型号/件号:磁珠;规格:磁珠;技术标准号:ACGD-BZ-005;附加技术条件:外观检查,常温初测,温度冲击,常温终测,外观检查,打标记。 | 1.0 | 只 | 分批交货 | 2026/08/30 | |||||
| 5 | 电子元器件 | 元器件/其它元器件 | 型号/件号:介质电容;规格:介质电容;技术标准号:ACGD-BZ-005;附加技术条件:外观检查,常温初测,温度冲击,高温电老炼常温终测,外观检查,打标记。 | 1.0 | 只 | 分批交货 | 2026/08/30 | |||||
| 6 | 电子元器件 | 元器件/其它元器件 | 型号/件号:电解电容;规格:电解电容;技术标准号:ACGD-BZ-005;附加技术条件:外观检查,常温初测,温度冲击,高温电老炼,低温测试,高温测试,密封检查,常温终测,外观检查,打标记。 | 1.0 | 只 | 分批交货 | 2026/08/30 | |||||
| 7 | 电子元器件 | 元器件/其它元器件 | 型号/件号:高能电容;规格:高能电容;技术标准号:ACGD-BZ-005;附加技术条件:外观检查,常温初测,温度冲击,高温电老炼,低温测试,高温测试,密封检查,常温终测,外观检查,打标记。 | 1.0 | 只 | 分批交货 | 2026/08/30 | |||||
| 8 | 电子元器件 | 元器件/其它元器件 | 型号/件号:分立器件(大于等于1A);规格:分立器件(大于等于1A);技术标准号:ACGD-BZ-005;附加技术条件:外观检查,常温初测,温度冲击,常温中测,PIND,高温反偏老炼,常温测试,功率老炼,低温测试,高温测试,常温测试,密封检查,常温终测,外观检查,打标记。 | 1.0 | 只 | 分批交货 | 2026/08/30 | |||||
| 9 | 电子元器件 | 元器件/其它元器件 | 型号/件号:分立器件(小于1A);规格:分立器件(小于1A);技术标准号:ACGD-BZ-005;附加技术条件:外观检查,常温初测,温度冲击,常温中测,PIND,高温反偏老炼,常温测试,功率老炼,低温测试,高温测试,常温测试,密封检查,常温终测,外观检查,打标记。 | 1.0 | 只 | 分批交货 | 2026/08/30 | |||||
| 10 | 电子元器件 | 元器件/其它元器件 | 型号/件号:电源模块/电源滤波器;规格:电源模块/电源滤波器;技术标准号:ACGD-BZ-005;附加技术条件:外观检查,常温初测,温度冲击,常温中测,PIND,功率老炼,低温测试,高温测试,常温测试,密封检查,常温终测,外观检查,打标记。 | 1.0 | 只 | 分批交货 | 2026/08/30 | |||||
| 11 | 电子元器件 | 元器件/其它元器件 | 型号/件号:电磁继电器(4组及以上);规格:电磁继电器(4组及以上);技术标准号:ACGD-BZ-005;附加技术条件:外观检查,常温初测,PIND,振动,密封检查,常温终测,外观检查,打标记。 | 1.0 | 只 | 分批交货 | 2026/08/30 | |||||
| 12 | 电子元器件 | 元器件/其它元器件 | 型号/件号:电磁继电器(4组以下);规格:电磁继电器(4组以下);技术标准号:ACGD-BZ-005;附加技术条件:外观检查,常温初测,PIND,振动,密封检查,常温终测,外观检查,打标记。 | 1.0 | 只 | 分批交货 | 2026/08/30 | |||||
| 13 | 电子元器件 | 元器件/其它元器件 | 型号/件号:通用模拟电路;规格:通用模拟电路;技术标准号:ACGD-BZ-005;附加技术条件:外观检查,常温初测,温度虚循环,常温中测,PIND,功率老炼,低温测试,高温测试,常温测试,密封检查,常温终测,外观检查,打标记。 | 1.0 | 只 | 分批交货 | 2026/08/30 | |||||
| 14 | 电子元器件 | 元器件/其它元器件 | 型号/件号:接触器;规格:接触器;技术标准号:ACGD-BZ-005;附加技术条件:外观检查,常温初测,温度虚循环,常温中测,PIND,功率老炼,低温测试,高温测试,常温测试,密封检查,常温终测,外观检查,打标记。 | 1.0 | 只 | 分批交货 | 2026/08/30 | |||||
| 15 | 电子元器件 | 元器件/其它元器件 | 型号/件号:复杂模拟电路;规格:复杂模拟电路;技术标准号:ACGD-BZ-005;附加技术条件:外观检查,常温初测,温度虚循环,常温中测,PIND,功率老炼,低温测试,高温测试,常温测试,密封检查,常温终测,外观检查,打标记。 | 1.0 | 只 | 分批交货 | 2026/08/30 | |||||
| 16 | 电子元器件 | 元器件/其它元器件 | 型号/件号:存储器;规格:存储器;技术标准号:ACGD-BZ-005;附加技术条件:外观检查,常温初测,温度虚循环,常温中测,PIND,功率老炼,低温测试,高温测试,常温测试,密封检查,常温终测,外观检查,打标记。 | 1.0 | 只 | 分批交货 | 2026/08/30 | |||||
| 17 | 电子元器件 | 元器件/其它元器件 | 型号/件号:接口及控制器;规格:接口及控制器;技术标准号:ACGD-BZ-005;附加技术条件:外观检查,常温初测,温度虚循环,常温中测,PIND,功率老炼,低温测试,高温测试,常温测试,密封检查,常温终测,外观检查,打标记。 | 1.0 | 只 | 分批交货 | 2026/08/30 | |||||
| 18 | 电子元器件 | 元器件/其它元器件 | 型号/件号:超大规模集成电路;规格:超大规模集成电路;技术标准号:ACGD-BZ-005;附加技术条件:外观检查,常温初测,温度虚循环,常温中测,PIND,功率老炼,低温测试,高温测试,常温测试,密封检查,常温终测,外观检查,打标记。 | 1.0 | 只 | 分批交货 | 2026/08/30 |