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电子元器件二筛中标结果公告
招标详情
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相关单位：
***********公司企业信息
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基本信息
询价单编号：
****
询价单名称：
电子元器件二筛
发布时间：
2026-07-30 10:46
采购企业：
**航力****公司
中标结果
| 1 | **** | 中标 | 558.00元 | |
| 电子元器件 | 元器件/其它元器件 | 型号/件号:电阻;规格:电阻;技术标准号:ACGD-BZ-005;附加技术条件:外观检查，常温初测，温度冲击，常温终测，外观检查，打标记。 | 1 | 只 |
| 电子元器件 | 元器件/其它元器件 | 型号/件号:电位器;规格:电位器;技术标准号:ACGD-BZ-005;附加技术条件:外观检查，常温初测，温度冲击，常温终测，外观检查，打标记。 | 1 | 只 |
| 电子元器件 | 元器件/其它元器件 | 型号/件号:电感;规格:电感;技术标准号:ACGD-BZ-005;附加技术条件:外观检查，常温初测，温度冲击，常温终测，外观检查，打标记。 | 1 | 只 |
| 电子元器件 | 元器件/其它元器件 | 型号/件号:磁珠;规格:磁珠;技术标准号:ACGD-BZ-005;附加技术条件:外观检查，常温初测，温度冲击，常温终测，外观检查，打标记。 | 1 | 只 |
| 电子元器件 | 元器件/其它元器件 | 型号/件号:介质电容;规格:介质电容;技术标准号:ACGD-BZ-005;附加技术条件:外观检查，常温初测，温度冲击，高温电老炼常温终测，外观检查，打标记。 | 1 | 只 |
| 电子元器件 | 元器件/其它元器件 | 型号/件号:电解电容;规格:电解电容;技术标准号:ACGD-BZ-005;附加技术条件:外观检查，常温初测，温度冲击，高温电老炼，低温测试，高温测试，密封检查，常温终测，外观检查，打标记。 | 1 | 只 |
| 电子元器件 | 元器件/其它元器件 | 型号/件号:高能电容;规格:高能电容;技术标准号:ACGD-BZ-005;附加技术条件:外观检查，常温初测，温度冲击，高温电老炼，低温测试，高温测试，密封检查，常温终测，外观检查，打标记。 | 1 | 只 |
| 电子元器件 | 元器件/其它元器件 | 型号/件号:分立器件（大于等于1A）;规格:分立器件（大于等于1A）;技术标准号:ACGD-BZ-005;附加技术条件:外观检查，常温初测，温度冲击，常温中测，PIND，高温反偏老炼，常温测试，功率老炼，低温测试，高温测试，常温测试，密封检查，常温终测，外观检查，打标记。 | 1 | 只 |
| 电子元器件 | 元器件/其它元器件 | 型号/件号:分立器件（小于1A）;规格:分立器件（小于1A）;技术标准号:ACGD-BZ-005;附加技术条件:外观检查，常温初测，温度冲击，常温中测，PIND，高温反偏老炼，常温测试，功率老炼，低温测试，高温测试，常温测试，密封检查，常温终测，外观检查，打标记。 | 1 | 只 |
| 电子元器件 | 元器件/其它元器件 | 型号/件号:电源模块/电源滤波器;规格:电源模块/电源滤波器;技术标准号:ACGD-BZ-005;附加技术条件:外观检查，常温初测，温度冲击，常温中测，PIND，功率老炼，低温测试，高温测试，常温测试，密封检查，常温终测，外观检查，打标记。 | 1 | 只 |
| 电子元器件 | 元器件/其它元器件 | 型号/件号:电磁继电器（4组及以上）;规格:电磁继电器（4组及以上）;技术标准号:ACGD-BZ-005;附加技术条件:外观检查，常温初测，PIND，振动，密封检查，常温终测，外观检查，打标记。 | 1 | 只 |
| 电子元器件 | 元器件/其它元器件 | 型号/件号:电磁继电器（4组以下）;规格:电磁继电器（4组以下）;技术标准号:ACGD-BZ-005;附加技术条件:外观检查，常温初测，PIND，振动，密封检查，常温终测，外观检查，打标记。 | 1 | 只 |
| 电子元器件 | 元器件/其它元器件 | 型号/件号:通用模拟电路;规格:通用模拟电路;技术标准号:ACGD-BZ-005;附加技术条件:外观检查，常温初测，温度虚循环，常温中测，PIND，功率老炼，低温测试，高温测试，常温测试，密封检查，常温终测，外观检查，打标记。 | 1 | 只 |
| 电子元器件 | 元器件/其它元器件 | 型号/件号:接触器;规格:接触器;技术标准号:ACGD-BZ-005;附加技术条件:外观检查，常温初测，温度虚循环，常温中测，PIND，功率老炼，低温测试，高温测试，常温测试，密封检查，常温终测，外观检查，打标记。 | 1 | 只 |
| 电子元器件 | 元器件/其它元器件 | 型号/件号:复杂模拟电路;规格:复杂模拟电路;技术标准号:ACGD-BZ-005;附加技术条件:外观检查，常温初测，温度虚循环，常温中测，PIND，功率老炼，低温测试，高温测试，常温测试，密封检查，常温终测，外观检查，打标记。 | 1 | 只 |
| 电子元器件 | 元器件/其它元器件 | 型号/件号:存储器;规格:存储器;技术标准号:ACGD-BZ-005;附加技术条件:外观检查，常温初测，温度虚循环，常温中测，PIND，功率老炼，低温测试，高温测试，常温测试，密封检查，常温终测，外观检查，打标记。 | 1 | 只 |
| 电子元器件 | 元器件/其它元器件 | 型号/件号:接口及控制器;规格:接口及控制器;技术标准号:ACGD-BZ-005;附加技术条件:外观检查，常温初测，温度虚循环，常温中测，PIND，功率老炼，低温测试，高温测试，常温测试，密封检查，常温终测，外观检查，打标记。 | 1 | 只 |
| 电子元器件 | 元器件/其它元器件 | 型号/件号:超大规模集成电路;规格:超大规模集成电路;技术标准号:ACGD-BZ-005;附加技术条件:外观检查，常温初测，温度虚循环，常温中测，PIND，功率老炼，低温测试，高温测试，常温测试，密封检查，常温终测，外观检查，打标记。 | 1 | 只 |
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