低噪声宽带射频信号分析仪

A****0304光学测试仪器

整体频率覆盖范围需达到2Hz~43.5GHz，兼顾低频微弱信号与高频微波信号测试需求；频谱分析基础分析带宽不低于160MHz，可根据后续科研需求升级至2GHz，分辨率带宽覆盖1Hz~10MHz，能够实现不同精细程度的频谱细节解析，满足多场景精细化频谱测试需求。 设备需集成相位噪声测试、AM噪声测试、VCO参数测试、信号瞬态测试及宽带频谱分析等一体化功能，具备超宽频偏噪声分析、低底噪、高动态范围、高测试线性度等核心性能，各项测量精度、稳定性指标需满足高频射频器件科研测试标准。同时设备需具备良好的拓展能力，预留频段升级及太赫兹频段拓展适配基础，可适配未来超高频、太赫兹领域前沿科研测试迭代需求。 核心功能要求如下： a. 噪声测试功能：支持1MHz～26.5GHz全自动相位噪声测试，频偏分析范围1μHz～1GHz；可直接测试相位噪声与AM噪声，全面表征信号噪声特性，可升级拓展噪声系数测试功能。 b. 器件及瞬态测试功能：集成专用VCO测试功能，支持压控振荡器参数检测；具备信号瞬态测试能力，可捕捉射频信号动态变化特性。 c. 频谱与IQ分析功能：频谱分析覆盖10Hz～26.5GHz，标配160MHz分析带宽、可升级至2GHz，分辨率带宽1Hz～10MHz；具备IQ分析能力，可精准解析信号频谱、杂散及底噪指标。 d. 高精度信号测试功能：具备超低底噪、大动态范围及高线性度特性，大功率信号测试无失真，可实现全频段高精度功率参数测试。 e. 扩展升级功能：预留外置混频器拓展接口，支持高频段升级，可适配超高频及太赫兹方向后续测试需求。