ONION43420 - 竞价公告(CM1048912026000559)

发布时间: 2026年08月20日
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ONION43420 - 竞价公告(****)
发布时间:2026-08-20 12:15:48 截止时间:2026-08-25 18:00:00标书代写
申购主题: 穆勒椭偏仪
报价要求:
发票类型: 增值税专用发票
付款方式: 货到验收合格后付款(具体以实际沟通为准)
收货地址: **市浦****
供应商资质: 一、供应商承诺:1、未参与围标、串标等行为;2、与采购人及其特定关系人不存在关联关系或其它影响采购公平的关系;3、不对采购人及其特定关系人进行任何形式的利益输送。 二、报价单要求:1. 供应商名称、联系人、电话;2. 报价单日期、有效期至少6个月以上;3. 货物名称、规格型号、配置参数、数量、单价、总价。(进口设备支持人民币及外币免税报价),如2种货币均可需提供具体换算汇率;4. 付款方式、交货期、质保期;5. 其他信息如有可提供(如代理商,必须提供原厂授权资质);6. 正式用印PDF文件;7. 如报价单主要信息缺失,采购人有权不接受报价。 三、供应商竞价要求:如为多采购项,1. 供应商竞价时应注意单价为多项的合计金额;2. 如有漏报价项,则该报价单无效。
备注说明:
送货时间: 合同签订后7天内送达(具体以合同约定为准)
安装要求: 免费上门安装(含材料费)
预算: 600000.0人民币
采购内容 数量/单位 预算单价 品牌 型号 规格参数 质保及售后服务 附件
穆勒椭偏仪 1.0/台 颐光科技 ME-L-L [{"key":"1","value":"1.光谱范围:190-1000nm 2.光谱测量间隔:<0.8nm @UV-VIS 3.单点测量时间:<15s(用户可设置) 4.光斑尺寸:大光斑1-4mm,微光斑200μm 5.可视化调平系统:支持样件台可视化辅助对准调平 6.调制技术:消色差双旋PCr1SCr2A调制技术 7.入射角范围:45-90°,自动变角 8.找焦功能:≥35mm,自动找焦 9.样品台:支持X/Y/Z,俯仰+旋转五维可调,满足尺寸φ200mm样件真空负压吸附固定测量 10.自动旋台:0-360°自动旋转调节 11.膜厚重复精度:优于0.005nm(100nm SiO2/Si,30 repeats,1σ) 12.折射率重复精度:优于0.0002(****@632.8nm,100nm SiO2/Si,30 repeats,1σ) 13.偏振精度:穆勒矩阵Mueller Matrix对角元素m=1±0.005,非对角元素m=0±0.005(测量空气全波段90%满足) 14.退偏指数:优于±0.5%(测量裸硅,全波段90%满足) 15.分析软件:数百种的光学材料常数数据库,并支持用户自定义光学材","important":true}] 按行业标准提供服务
穆勒椭偏仪 1.0/台 泰仪瑞科技 PCE-2r [{"key":"1","value":"1.光谱范围:190-1000nm 2.光谱测量间隔:<0.8nm @UV-VIS 3.单点测量时间:<15s(用户可设置) 4.光斑尺寸:大光斑1-4mm,微光斑200μm 5.可视化调平系统:支持样件台可视化辅助对准调平 6.调制技术:消色差双旋PCr1SCr2A调制技术 7.入射角范围:45-90°,自动变角 8.找焦功能:≥35mm,自动找焦 9.样品台:支持X/Y/Z,俯仰+旋转五维可调,满足尺寸φ200mm样件真空负压吸附固定测量 10.自动旋台:0-360°自动旋转调节 11.膜厚重复精度:优于0.005nm(100nm SiO2/Si,30 repeats,1σ) 12.折射率重复精度:优于0.0002(****@632.8nm,100nm SiO2/Si,30 repeats,1σ) 13.偏振精度:穆勒矩阵Mueller Matrix对角元素m=1±0.005,非对角元素m=0±0.005(测量空气全波段90%满足) 14.退偏指数:优于±0.5%(测量裸硅,全波段90%满足) 15.分析软件:数百种的光学材料常数数据库,并支持用户自定义光学材","important":true}] 按行业标准提供服务
穆勒椭偏仪 1.0/台 诺瓦科技 FT5500 [{"key":"1","value":"1.光谱范围:190-1000nm 2.光谱测量间隔:<0.8nm @UV-VIS 3.单点测量时间:<15s(用户可设置) 4.光斑尺寸:大光斑1-4mm,微光斑200μm 5.可视化调平系统:支持样件台可视化辅助对准调平 6.调制技术:消色差双旋PCr1SCr2A调制技术 7.入射角范围:45-90°,自动变角 8.找焦功能:≥35mm,自动找焦 9.样品台:支持X/Y/Z,俯仰+旋转五维可调,满足尺寸φ200mm样件真空负压吸附固定测量 10.自动旋台:0-360°自动旋转调节 11.膜厚重复精度:优于0.005nm(100nm SiO2/Si,30 repeats,1σ) 12.折射率重复精度:优于0.0002(****@632.8nm,100nm SiO2/Si,30 repeats,1σ) 13.偏振精度:穆勒矩阵Mueller Matrix对角元素m=1±0.005,非对角元素m=0±0.005(测量空气全波段90%满足) 14.退偏指数:优于±0.5%(测量裸硅,全波段90%满足) 15.分析软件:数百种的光学材料常数数据库,并支持用户自定义光学材","important":true}] 按行业标准提供服务
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