开启全网商机
登录/注册
| 1 | db8a41fd-9e81-4c4e-87fa-3041d11e0436 | SEM表征 | 外包服务 | 规格型号:/ | 80小时 | 一次性交货 | 检测设备为具有EDS附件的场发射扫描电子显微镜。能够进行点、线、面等成分分析,分析结果准确,图片清晰。 | ||||
| 2 | 8e7507aa-42d8-4a8e-935e-f1f55ff3293a | XRD表征 | 外包服务 | 规格型号:/ | 20个 | 一次性交货 | 检测设备为铜靶或钴靶的高精度X射线衍射仪,检测过程中设备电压和电流需保持稳定。能够实现氧化膜相组成及其含量分析等内容,具备开具检测报告的资质。 | ||||
| 3 | a36e41be-a7ce-4ed8-b14b-6c4afc47056e | EBSD表征 | 外包服务 | 规格型号:/ | 30小时 | 一次性交货 | 含制样20个,要求采用机械研磨+电解抛光或离子束抛光等方式制备,样品表面应无应力层、无氧化层或其他污染层,晶粒取向信息完整,满足EBSD检测要求。检测设备为具有EBSD探测器的场发射扫描电子显微镜,标定率≥90%,能够进行晶粒取向、织构、晶界特征及相分布分析等。 | ||||
| 4 | 71093c90-71a5-47b8-bcab-4d16b1412e1b | 聚焦离子束FIB制样TEM表征 | 外包服务 | 规格型号:/ | 10小时 | 一次性交货 | 含制样5件,要求采用聚焦离子束(FIB)方法制备,样品厚度≤100nm,无穿孔、无热损伤,满足高分辨TEM观察要求;检测设备为透射电子显微镜,具备选区电子衍射(SAED)及高分辨成像(HRTEM)功能,能够进行微观组织、位错、析出相及界面结构等分析。 | ||||
| 5 | 901ee27d-b3a9-42a3-91ea-a18188d458b0 | 电解双喷减薄制样TEM表征 | 外包服务 | 规格型号:/ | 20小时 | 一次性交货 | 含制样10件,要求采用电解双喷减薄方法制备,样品厚度≤100nm,无穿孔、无热损伤,满足高分辨TEM观察要求;检测设备为透射电子显微镜,具备选区电子衍射(SAED)及高分辨成像(HRTEM)功能,能够进行微观组织、位错、析出相及界面结构等分析。 |
本项任务面向航材院《供应商名录》内供应商状态为合格(正常)且准入“采购标的”含本次业务的供应商公开谈判采购