硅光收发芯片封装测试服务(ZJLAB-FS-BX20260096)延期公告

发布时间: 2026年08月25日
摘要信息
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相关单位:
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延期信息
延期理由:

项目名称 项目编号 公告开始日期 公告截止日期 采购单位 付款方式 联系人 联系电话 签约时间要求 到货时间要求 预算总价 发票要求 含税要求 送货要求 安装要求 收货地址 供应商资质要求 公告说明
硅光收发芯片封装测试服务****
2026-08-20 10:17:432026-08-28 12:00:00
****合同签订后预付50%款,验收合格后付50%款
¥180000.00

符合《政府采购法》第二十二条规定的供应商基本条件


采购清单1
采购商品 采购数量 计量单位 所属分类
硅光收发芯片封装测试服务 1 其他服务
品牌 型号 预算单价 技术参数及配置要求 参考链接 售后服务
¥ 180000.00
服务内容和服务要求: 1. 硅光收发芯片端面耦合器(SSC)的器件损耗测试和光纤阵列(FA)的耦合损耗测试。 2. 硅光收发芯片与光纤阵列(FA)的芯片级耦合封装及损耗测试(耦合损耗≤3dB)。 3. 光收发芯片端面抛光后的端面耦合器损耗测试。 4. 用于光收发芯片片上各****测试所需的芯片级光学耦合封装。 5. 从1.6T光收发芯片到3.2T光收发芯片与光纤阵列耦合封装技术的延伸与探索测试。 服务履行期限:2026 年 9 月 1 日至2026年 12 月 30 日 服务验收时间:履约完成后 15 日内进行验收。 服务验收标准: 1.对所用的硅光收发芯片端面耦合器(SSC)进行多次的插入损耗测试,并进行与光纤阵列的耦合,以实现最小的插入损耗,并进行总结。(耦合损耗≤3dB)。 2.在1的基础上对光收发芯片与光纤阵列进行耦合、封装,形成稳定的封装技术参数,耦合损耗≤3dB。 3.芯片端面抛光合格率的筛选,耦合损耗≤3dB。 4.附加损耗≤3dB。 5.提供封装技术报告。

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