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| 1 | 微纳器件时域频域综合表征实验设备 | 微纳器件时域频域综合表征实验设备,一套。用于在统一时钟同步条件下,开展微纳射频芯片、先进封装互连结构、星载相控阵通道器件时域瞬态信号、频域射频参数一体化测试表征,探究微纳尺度器件电学损耗、非线性失真、高速信号完整性演变规律。设备可同步完成时域波形采集、频域网络参数测试、调制域特性分析;工作频率范围:100kHz~32GHz,时域采集带宽≥13GHz,热态采样率 128GSa/s,具备多通道同步触发、微纳器件去嵌入校准、自动化批量测试与数据联合解析功能。供货周期:合同签订后 4 个月,质保 2 年。 | ****000.00 | 2026-09 |