弱信号提取专用智能芯片封装服务(ZJLAB-FS-BX20260115)采购公告

发布时间: 2026年10月23日
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项目名称 项目编号 公告开始日期 公告截止日期 采购单位 付款方式 联系人 联系电话 签约时间要求 到货时间要求 预算总价 发票要求 含税要求 送货要求 安装要求 收货地址 供应商资质要求 公告说明
弱信号提取专用智能芯片封装服务****
2026-10-23 10:07:312026-10-28 11:00:00
****第1期:签订合同后7天内,预付90%;第2期:验收后30天内,付10%。
¥480000.00

符合《政府采购法》第二十二条规定的供应商基本条件


采购清单1
采购商品 采购数量 计量单位 所属分类
弱信号提取专用智能芯片封装服务 1 项 其他专业技术服务
品牌 型号 预算单价 技术参数及配置要求 参考链接 售后服务
¥ 480000.00
服务内容1:完成FCCSP封装方案及基板设计。封装尺寸约13 mm×13 mm、361个引出端口、球栅间距0.65 mm、6层BT基板;完成叠层、Pin Map、走线、电源地平面、回流路径、焊球及散热结构设计。 服务内容2:完成SI/PI、热仿真及工艺可制造性评估。SerDes速率10 Gbps,5 GHz下插入损耗小于1.5 dB;DDR速率3200 Mb/s、数据位宽DQ64+ECC8;完成阻抗、串扰、时序、电流密度、直流压降、电源噪声及结温分析。 服务内容3:准备400颗Die,经筛选后选取380颗完成FCCSP封装加工,对封装样品逐颗开展开短路测试,并从合格品中选取300颗开展功能及电性能测试;形成样品编号、测试结果、异常分析和问题闭环记录,确保满足32块板卡、每板8颗芯片的Demo系统装机需求,并覆盖封装后样片在板级调试、系统联调、返修替换及稳定性测试中的合理损耗。 技术指标:封装尺寸约13 mm×13 mm,361个引出端口,0.65 mm球栅间距,6层BT基板;10 Gbps SerDes在5 GHz下插入损耗小于1.5 dB;DDR达到3200 Mb/s、DQ64+ECC8;PI及热仿真满足芯片规格;准备400颗Die,筛选380颗完成封装和开短路测试,其中300颗完成功能及电性能测试;数据完整、真实、可追溯。 履行期限、地点和方式:期限:自合同生效之日起2个月内完成。地点:乙方所在地或双方商定地点。方式:乙方提供封装设计、仿真、加工、测试和报告交付全流程服务。 售后服务:交付后3个月内对报告准确性、设计建议和测试数据负责;发现设计缺陷、数据错误或交付缺项时,免费补充仿真、修订报告或重新测试。 验收标准:封装方案及设计数据符合甲方确认要求;SI/PI和热仿真逐项满足技术指标;380颗样品完成封装加工和逐颗开短路测试,其中200颗完成功能及电性能测试;样品、报告、设计数据、原始测试数据和问题闭环记录提交齐全。 验收方式:甲方在收到全部成果后10个工作日内,通过资料审查、指标核对及样品抽样复核进行验收;全部满足约定要求后验收合格。 成果交付:《封装设计方案报告》《SI/PI仿真报告》《热仿真及工艺评估报告》《封装验证总报告》;封装设计及加工数据;380颗样品的开短路测试原始数据、200颗样品的功能及电性能测试数据和异常分析记录;封装样品380颗。
交付后3个月内,对报告准确性及设计建议负责;若发现设计缺陷或数据失实,免费补充仿真或重新测试。;

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