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中山大学晶体管测试系统202610114669
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| 申购单主题： | 晶体管测试系统 | ||||||
| 申购备注： | |||||||
| 商品名称 | 品牌 | 型号 | 数量 | 报价类型 | 售后服务 | ||
| 晶体管测试系统 | 天恒 | BCTS-2636 | 1 | 国内含税价/人民币 | 无 | ||
| 规格 | 1.支持 MOS、BJT 、TFT、OECT、OFET、HEMT三端晶体管测试 2.DC电流1.2A、脉冲电流8 A，兼顾微漏电与大电流测试 3.直流电压最大200 V，精准测阈值、击穿电压 4.支持直流、脉冲激励，脉冲模式抑制器件自热 5.fA 级低电流测量，适配栅漏电、亚阈值特性测试 6.自动采集转移曲线、输出曲线，提取Vth、gm、Rds （on）、击穿电压等参数 7.可切换高速扫描或低噪声高精度测量 8.支持线性/对数/阶梯扫描，自定义多序列自动化流程测试 9.实时绘图，带时间戳，支持 CSV 数据、曲线导出 10.具备过压过流功率保护，标准接口可对接探针台 | ||||||
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2026-10-29
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