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椭偏仪与膜厚仪采购

结果-中标通知

广东 -广州

发布时间： 2026年11月09日

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摘要信息

中标单位

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招标单位

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招标联系人

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代理单位联系人

关键信息

膜厚仪采购

招标详情

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相关单位：

***********公司企业信息

椭偏仪与膜厚仪采购

竞价结果公告(****)

开始时间：2026-11-06 09:16:47 截止时间：2026-11-09 09:16:47

成交单位：****

成交价： 395000.000元

说明：各有关当事人对竞价结果有异议的，可以在竞价结果公告发布之日起3天内通过规定途径提起异议，逾期将视为无异议，不予受理。

采购单位：****	联系人：李老师
E-mail：zbzx@gdut.****.cn	联系电话：188****6271
传真：无	联系手机：无
邮编：无	平台联系电话（异议）：020-**9972；**@qq.com
项目名称：椭偏仪与膜厚仪采购	竞价编号：****
采购类型：货物类	开始时间：2026-11-06 09:16:47
项目预算(元)：401,000.00	结束时间：2026-11-09 09:16:47
质保期及售后要求：详见《电子竞价导入参数表》
其他要求：详见《电子竞价导入参数表》

详见《电子竞价导入参数表》

响应情况

资格及商务响应情况项目竞价要求响应情况报价情况标的名称生产厂商/品牌、型号规格数量响应情况单价（元/%）技术响应标的名称技术要求响应情况

资格条件	详见《电子竞价导入参数表》		（1）具有独立承担民事责任的能力；（2）具有良好的商业信誉和健全的财务会计制度；（3）具有履行合同所必需的设备和专业技术能力；（4）有依法缴纳税收和社会保障资金的良好记录；（5**政府采购活动前三年内，在经营活动中没有重大违法记录；（附件1承诺函）（6）法律、行政法规规定的其他条件。（附件1承诺函） 2.不属于单位负责人为同一人或者存在直接控股、管理关系的不同供应商，同时参加本采购项目（或采购包）投标（响应）。 3.未被列入“信用中国”网站（www..cn）“记录失信被执行人或重大税政府采购严重违法失信行为”记录名单；政府采购网（www..cn）“政府采购严重违法失信行为信息记录”**政府采购活动期间。 4.我司不是联合体参加报价。
付款方式	详见《电子竞价导入参数表》		货物安装调试完毕，经采购人、我方双方对货物进行验收合格并完成交付后，我方开具全额增值税专用发票给采购人，采购人按其规章制度办理支付手续向我方支付全部合同货款。
交付时间	详见《电子竞价导入参数表》		合同生效7天内我方完成货物安装调试并交付使用。
履约保证金：	无需履约保证金		无履约保证金
交付地址	详见《电子竞价导入参数表》
质保期及售后要求	详见《电子竞价导入参数表》		所有货物保修期为2年，我方提供免费2_年上门保修服务和系统维护，乙方不再收取任何费用，保修期自甲乙双方代表在货物安装调试后的验收证明文件上签字之日起计算。
其他要求：	详见《电子竞价导入参数表》		1.交付验收标准为：按本合同约定的货物及价格、详细配置清单及技术指标、符合采购文件和响应承诺中甲方认可的合理最佳配置、参数及各项要求、国家相关标准和行业规范进行验收（该等标准不一致的，以较高为准）。 2.验收流程按甲方规章制度执行，****小组（含我方人员）按国家有关规定、规范进行验收，必要时甲方可邀请相关的专业人员或机构参与验收。 3.货物安装调试完毕且正常运行后，我方应向甲方提出书面验收申请，准备并向甲方提交验收文件，本合同项下的全部货物按甲方验收流程验收通过，经双方签署验收合格证明后，视为验收合格。 4.验收合格后，我方应将货物的用户手册、保修手册、有关单证资料及配备件、随机工具等交付给甲方，使用操作及安全须知等重要资料应附有中文说明。前述资料物品交付完毕当日，视为合同货物完成交付。
椭偏仪	详见《电子竞价导入参数表》、详见《电子竞价导入参数表》	1.00	****/颐光科技、 SE-VE-L	190000.000元
膜厚仪	详见《电子竞价导入参数表》、详见《电子竞价导入参数表》	1.00	****/颐光科技、 SR-M	205000.000元
总报价	395000.000 元
椭偏仪	详见《电子竞价导入参数表》		1. 测量参数：Psi/Delta、光学常数、膜厚及介电函数等； 2. 光谱范围：210-1650nm，无外接光纤； 3. 光斑尺寸：2-3mm； 4. 光谱分辨率：≦0.5nm@210-1650nm 5. 重复性精度：≦0.005nm （100nm SiO2 硅片，30 次重复测量）； 6. 样品台：支持 Z 轴找焦+俯仰调节，最大可满足 8 寸样品真空吸附固定； 7. 调平系统：支持样品视频可视化十字辅助对准调平； 8. 单次采集时间：≦5 s 9. 分析软件：recipe 一健测量模式，内置 100 多种光学材料 nk 数据库，支持用户新增和编辑材料库；具有单层、多层、超薄膜的建模分析能力，包含 cauchy、sellmeier、Tauc-lorentz、bspline、oscillator 等模型，支持离线软件授权使用;
膜厚仪	详见《电子竞价导入参数表》		1）基本功能：获取薄膜厚度以及 R、N/K 等光谱 2) 光谱范围：400-1650nm 3) 光谱分辨率：优于 1nm 4) 物镜标准倍率切换规格：5×、10×、20×、50× 5) 光斑尺寸：3um（50X 物镜）、7.5um（20X 物镜）、15um（10X 物镜）、30um（5X 物镜）可选（根据配置的物镜切换光斑大小） 6) 测量精度：0.2%和 1nm 较大者 7) 重复性精度：0.02nm（500nm 硅基 SiO2 样件，100 次重复测量） 8) 厚度拟合算法：至少拥有 Grid，Robust 和 FFT 三种拟合算法 9) 单点测量时间：≤1s 10) 微区定位系统：配置 CCD 光学相机，视频化定位微区 11) 光源：钨灯，寿命不低于 2000h 12) 样品台尺寸：最大支持样件尺寸 150*150mm 13）分析软件：拥有不少于 100 种材料的数据库，可自由导入新材料文件；可进行不同镀膜材料的建模，模拟镀膜膜系的反射率曲线；软件界面人性化设计，测试数据能够方便的储存和导出；免费提供针对不同材质测试的 Recipe 程式，并可以新增新材质的 recipe；具有膜厚自校准标定功能，配备相应标准器；至少 5 个软件授权许可 License 支持用户自定义，软件不限制拷贝数量;
附件