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测试-理论计算
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***********公司企业信息
***********公司企业信息
| 采购信息 | |
| 采购单位名称 | |
| 采购项目名称 | 测试-理论计算 |
| 成交供应商 | ****公司 |
| 成 交 价（元） | 5160 |
| 采购清单 | ||||||
| 序号 | 物资名称 | 规格型号 | 单价（元） | 数量 | 技术参数 | |
| 1 | 理论计算 | 5160 | 1 | 计算二维DyOCl栅介质体系的能带结构，有利于分析栅介质对FET性能的影响，辅助分析发光机理，使体系理论深度加强 | ||
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