北京航空航天大学集成电路科学与工程学院芯片/PCB微缺陷无损检测用3D X-ray检测分析系统

发布时间: 2024年09月18日
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***********公司企业信息
****2024年9至12月政府采购意向-****集****学院芯片/PCB微缺陷无损检测用3D X-ray检测分析系统 详细情况
****集****学院芯片/PCB微缺陷无损检测用3D X-ray检测分析系统
项目所在采购意向: ****2024年9至12月政府采购意向
采购单位: ****
采购项目名称: ****集****学院芯片/PCB微缺陷无损检测用3D X-ray检测分析系统
预算金额: 347.000000万元(人民币)
采购品目:
A****9900其他电工、电子生产设备
采购需求概况 :
面向近存、存算、大算力芯片技术研究,通过使用高分辨率3D X射线照射,对芯片/PCB等各类板状电子产品进行层析扫描,快速对IC封装结构的微缺陷、PCB和载板的工艺缺陷、各类IC类产品的开/断/短路以及异常连接的无损检测,辅助IC设计人员快速做出故障分析。
预计采购时间: 2024-10
备注:

本次公开的****政府采购工作的初步安排,具体采购项目情况以相关采购公告和采购文件为准。标书代写

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