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| **** | 项目名称探测器后段流片服务 | |
| ****学院 | 经办人宋俊峰 | |
| 290000.00 人民币 | 成交金额290000.00 人民币 | |
| **** | ||
| **市-市辖区-中国(**)自由贸易试验区临港新片区环湖西二路888号C楼 | 采购单位 | **** |
| 服务完毕验收合格后100%付款。 | ||
| 177****8376 | 服务时间2025年05月16日 至 2025年05月31日 | |
| **省-**市-**大街2699号 | ||
| 以成交单为准,参考相关内容进行验收。验收程序以甲方职能部门规定为准。 | ||
| 1)质保期:货到验收合格之日起 12 个月 2)售后服务提供商:****公司 3)服务响应时间与服务内容 电话相应时间:1 小时 | ||
| 供应商列表.pdf | ||
| 电子、通信与自动控制技术研究服务 | 名称芯片流片服务 | |
| 项 | 数量1 | |
| ¥290,000.00 | 总价¥290,000.00 | |
| 1. 服务范围 根据服务要求,完成流片过程中包括锗材料外延、锗区的离子注入、金属打孔与金属互连制作在内的关键工艺步骤。 2. 服务内容 (1)锗材料外延 ● 需在SOI基底的指定区域内完成高质量锗(Ge)外延生长; ● 外延方式建议为低温Ge种子层+高温Ge厚膜生长,厚度范围约为1–2 μm; ● 表面粗糙度要求RMS < 1 nm,以满足后续器件集成需求。 (2)离子注入与激活退火 ● 对外延Ge区域进行掺杂,掺杂类型包括p型和n型(如B、P等),注入能量和剂量将根据器件仿真参数设定; ● 注入后需执行标准退火工艺进行激活,温度与时间需与Ge兼容。 (3)金属开窗与互连制作 ● 在器件接触区域打孔以暴露接触面,适配后续金属沉积; ● 金属材料建采用Ti/TiN/Al; ● 需完成引出Pad区制作,支持探针测试或打线封装。 序号 项目 金额(万元) 1) 锗薄膜生长 9.00 2) P型离子注入 8.00 3) N型离子注入 8.00 4) 金属沉积及刻蚀 4.00 3. 服务要求 (1)流片完成后,期望交付形式为切割小片或整片(带测试Pad); (2)对于关键器件区域,要求具备较高的重复性和一致性,若可能,请提供典型区域的工艺测试结果。 | ||
| 设 备 类:林老师: 0431-****7310 工 程 类:白老师: 0431-****7313 服务及其他货物:李老师: 0431-****7309 |